【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种大规模自动化接触电阻测试机台,属于半导体测试。
技术介绍
1、测试插座与lga封装 cpu芯片底座的接触电阻是决定接插件产品性能的重要关键参数,是产品装配提交及出厂检验的重要测试环节,需要进行100%测试。高温老化试验、低温老化试验与强加速稳态湿热试验过程中,当芯片试验良品率下降时,需及时排除是否为板上试验插座接触电阻过大导致试验良品率下降。针脚接触电阻过大,导致电路的效率下降、发热增加和信号传输的损失等问题。尤其是传输大电流信号的针脚接触电阻增加,会使接触点热量异常增加,导致芯片熔球,甚至烧毁插座针板。
2、目前国内对接触电阻的测试主要采用微电阻仪进行手工测试。由于这些测试仪器均是通过手动方式用计量仪表的表笔接触接插件接触电阻两端进行接触电阻的测试,每次只能测试一路,测试效率较低,只适合产品的科研、试制用测试,不适合插座的批量测试与各种试验过程中接触电阻的快速测量,且长时间的测试还会引起操作人员疲劳影响测量质量。
3、因此,有必要专利技术一种大规模自动化接触电阻测试机台,通过自动测量与记录的测
...【技术保护点】
1.一种大规模自动化接触电阻测试机台,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的大规模自动化接触电阻测试机台,其特征在于,所述电压检测电路为基板每条链的电压对应3种放大倍数的放大电路。
3.如权利要求1所述的大规模自动化接触电阻测试机台,其特征在于,所述测距传感器为激光测距传感器。
4.如权利要求1所述的大规模自动化接触电阻测试机台,其特征在于,所述定位轴为光杆,所述运动轴为涡杆。
5.如权利要求1所述的大规模自动化接触电阻测试机台,其特征在于,所述动力源为电机。
6.如权利要求1所述的大规模自动化接触电阻测
...【技术特征摘要】
1.一种大规模自动化接触电阻测试机台,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的大规模自动化接触电阻测试机台,其特征在于,所述电压检测电路为基板每条链的电压对应3种放大倍数的放大电路。
3.如权利要求1所述的大规模自动化接触电阻测试机台,其特征在于,所述测距传感器为激光测距传感器。
4.如权利要求1所述的大规模自动化接触电阻测试机台,其特征在于,所述定...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘军,张永强,邓雅娉,
申请(专利权)人:长沙南道电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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