子板控制装置及老炼子板制造方法及图纸

技术编号:23227602 阅读:30 留言:0更新日期:2020-02-01 03:06
本申请实施例公开了一种子板控制装置及老炼子板,该子板控制装置包括:控制电路板,用于安装于子板电路板上且与子板电路板电连接;控制器,设置于控制电路板上,用于发送激励信号给待测试芯片、发送控制信号给温度供应装置,并接收子板电路板对应的检测信号。子板控制装置能够独立地对子板电路板上的待测试芯片进行老炼测试,简化了子板电路板上的布线设计,减少了走线对信号传输的干扰,且通过与不同的子板电路板的组合,能够满足对不同的待测试芯片的测试需求。

Child board control device and old child board

【技术实现步骤摘要】
子板控制装置及老炼子板
本申请涉及芯片老炼测试,具体涉及一种子板控制装置及老炼子板。
技术介绍
芯片在出厂之前,一般需要进行老炼测试。老炼测试是指高温条件下对芯片施加电力应力与温度应力,加速导致早期失效机理发生的可靠性试验。通过加速电路失效的发生使良品尽早的进入其可靠性使用周期即浴盆曲线中部的偶然失效期,避免在使用早期发生故障。老炼测试是一种非破坏性的试验,只是对有潜在缺陷的电路起到诱发作用,而不引起电路整体筛选后的新失效机理或改变它的失效分布。且如果不经过老炼测试,很多半导体成品由于器件与制造工艺缺陷等原因在使用过程中会出现很多问题。因此,需要通过老炼系统对芯片做高温加速寿命试验,从而筛选出稳定可靠的芯片。相关技术中,将多块待测试芯片放置于同一老炼板上,且将多块老炼板放在老炼温箱中统一加热,通过耐高温接插件、耐高温导线与老炼温箱外的电源与功能电路连接。板间导线连接关系复杂、不稳定、极易出错,对信号传输有干扰,且针对不同的待测试芯片,无法满足单独控制的需求,兼容性差。
技术实现思路
有鉴于此,本申请实施例提供了一种子板控制装置及老炼子板,旨在实现对待测试芯片的独立控制。本申请实施例的技术方案是这样实现的:第一方面,本申请实施例提供一种子板控制装置,用于对设置于子板电路板上的待测试芯片进行单独控制,所述子板电路板上设置用于给所述待测试芯片提供老炼温度环境的温度供应装置,所述子板控制装置包括:控制电路板,用于安装于所述子板电路板上且与所述子板电路板电连接;控制器,设置于所述控制电路板上,用于发送激励信号给对应的所述待测试芯片、发送控制信号给所述温度供应装置,并接收所述子板电路板发送的对应的检测信号。第二方面,本申请实施例提供一种老炼子板,包括:子板电路板,所述子板电路板上设置第一接口电路、第二接口电路,所述第一接口电路用于连接待测试芯片,所述第二接口电路用于连接温度供应装置,所述子板电路板上设置前述任一实施例所述的子板控制装置。本申请实施例提供的技术方案中,子板控制装置经控制电路板安装于子板电路板上,子板控制装置具有扩展性、通用性、可回收性;子板控制装置可与不同的子板电路板组合,以满足对不同的待测试芯片的测试需求;子板控制装置采用插拔式模块化设计不仅简化了子板电路板上的布线设计,减少了走线对信号传输的干扰,还能回收反复使用。附图说明图1为本申请一实施例中子板电路板的结构示意图;图2为本申请一实施例中子板控制装置的结构示意图;图3为本申请一实施例中老炼子板的结构示意图。具体实施方式以下结合说明书附图及具体实施例对本申请技术方案做进一步的详细阐述。应当理解,此处所提供的实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。另外,以下所提供的实施例是用于实施本申请的部分实施例,而非提供实施本申请的全部实施例,在不冲突的情况下,本申请实施例记载的技术方案可以任意组合的方式实施。除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。本申请实施例提供一种子板控制装置,用于对设置于子板电路板上的待测试芯片进行单独控制。请参阅图1,子板电路板11上设有用于安装子板控制装置的第一安装区111、用于安装老炼座的第二安装区112、用于与母板电路板电连接的第一连接器12。母板电路板上可以设置一块或者多块子板电路板11。在一实施例中,待测试芯片经老炼座安装于子板电路板11上。老炼座内设置用于容纳待测试芯片的容纳区及位于老炼座底部的弹簧针座,待测试芯片在老炼座内抵接该弹簧针座,该弹簧针座的弹簧针与待测试芯片的引脚对应,第二安装区112设置连接待测试芯片的第一接口电路(图未示),该第一接口电路包括与弹簧针座的各弹簧针一一对应的触点。待测试芯片安装就位后,待测试芯片的各管脚经弹簧针座与子板电路板11上的第一接口电路连接。老炼座上还设置用于给待测试芯片提供老炼温度环境的温度供应装置,第二安装区112设置第二接口电路(图未示),该温度供应装置经第二接口电路连接子板电路板11。待测试芯片通过老炼座安装于子板电路板11上,便于待测试芯片的快速安装。本申请实施例中,请结合参阅图2,子板控制装置2包括:控制电路板21,用于安装于子板电路板11上且与子板电路板11电连接;控制器,设置于控制电路板21上,用于发送激励信号给待测试芯片、发送控制信号给温度供应装置,并接收子板电路板对应的检测信号。控制器经控制信号控制温度供应装置为老炼座内的待测试芯片提供合适的老炼温度,实现了对待测试芯片的单独加热,控制器发送激励信号控制待测试芯片的内部单元在对应的老炼温度下工作,并接收子板电路板11对应的检测信号,进而确定子板电路板11上待测试芯片对应的工作状态。本实施例中,子板控制装置2经控制电路板21安装于子板电路板11上,该子板控制装置2能够独立地对子板电路板11上的待测试芯片进行老炼测试,且能够单独控制待测试芯片。通过与不同的子板电路板的组合,能够满足对不同的待测试芯片的测试需求。当子板电路板11或者子板控制装置2出现故障时,仅需对出现故障的部分进行替换,便于维护。在一些实施例中,设置于控制电路板21上的控制器包括现场可编程门阵列FPGA22、微处理器MCU23。控制电路板21上设置第二连接器24,控制电路板21经第二连接器24与子板电路板11电连接。FPGA22与子板电路板11通信连接;MCU23与FPGA22及子板电路板11均通信连接。MCU23用于控制子板电路板11、接收FPGA22下发的所述控制信号、控制温度供应装置的工作状态、控制待测试芯片上电顺序、接收子板电路板11对应的检测信号并上传给FPGA22。FPGA22用于发送激励信号给对应的所述待测试芯片以控制所述待测试芯片的内部单元工作,并根据所述待测试芯片的内部单元在所述激励信号下对应的输出信号确定所述待测试芯片对应的测试结果,下发控制信号给MCU23并接收经MCU23上传的子板电路板11对应的检测信号。譬如,以CPU芯片作为待测试芯片,FPGA22给CPU芯片加载激励信号,用于测试CPU芯片在对应的老炼温度环境中核Core、双倍速率同步动态随机存储器DDR、串行计算机扩展总线PCIE、通用输入/输出GPIO、内存Memory、锁相环PLL、串行外设接口SPI、I2C(Inter-IntegratedCircuit)、桥协议转换电路GMAC、LPC(LowPinCount)、JTAG(JointTestActionGroup,联合测试行为组织)、通用异步收发传输器UART、中断控制器、直接内存存取DMA控制器、复位RES、时钟CLK等内部单元是否工作正常。具体测试方式可以采用用户输入的自定义激励方式、BIST(Built-inSelfTest,内建自测)测试技术或者基于JTAG标本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种子板控制装置,用于对设置于子板电路板上的待测试芯片进行控制,所述子板电路板上设置用于给所述待测试芯片提供老炼温度环境的温度供应装置,其特征在于,所述子板控制装置包括:/n控制电路板,用于安装于所述子板电路板上且与所述子板电路板电连接;/n控制器,设置于所述控制电路板上,用于发送激励信号给对应的所述待测试芯片、发送控制信号给所述温度供应装置,并接收所述子板电路板发送的对应的检测信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种子板控制装置,用于对设置于子板电路板上的待测试芯片进行控制,所述子板电路板上设置用于给所述待测试芯片提供老炼温度环境的温度供应装置,其特征在于,所述子板控制装置包括:
控制电路板,用于安装于所述子板电路板上且与所述子板电路板电连接;
控制器,设置于所述控制电路板上,用于发送激励信号给对应的所述待测试芯片、发送控制信号给所述温度供应装置,并接收所述子板电路板发送的对应的检测信号。


2.如权利要求1所述的子板控制装置,其特征在于,所述控制器包括:
现场可编程门阵列FPGA,所述FPGA与所述子板电路板通信连接;
微处理器MCU,与所述FPGA及所述子板电路板均通信连接;
其中,所述FPGA用于发送所述激励信号给对应的所述待测试芯片以控制所述待测试芯片的内部单元工作,并根据所述待测试芯片的内部单元在所述激励信号下对应的输出信号确定所述待测试芯片对应的测试结果,所述MCU用于接收所述FPGA下发的所述控制信号,根据所述控制信号控制所述温度供应装置的工作状态,接收所述子板电路板对应的检测信号并上传给所述FPGA。


3.如权利要求2所述的子板控制装置,其特征在于,所述检测信号包括所述待测试芯片的工作电压,所述子板控制装置还包括:
电压采样模块,连接所述MCU,用于检测所述待测试芯片的工作电压并传递给所述MCU。


4.如权利要求2所述的子板控制装置,其特征在于,所述子板控制装置还包括:
第一指示灯,连接所述F...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘军邓雅娉吴扬刘雄剑张永强
申请(专利权)人:长沙南道电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:湖南;43

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