烧录功率补偿系统及方法技术方案

一种烧录功率补偿系统及方法，由控制单元控制进行最佳功率测试。计算单元将测试功率及对应的非对称参数，近似成线性测试功率函数，用以计算检测单元检测的非对称参数差值及对应的功率补偿量。功率补偿单元利用功率补偿量调整激光光束功率，以提升烧录的品质。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，尤其涉及光盘机以最佳功率测试的功率进行烧录中，利用补偿功率以维持烧录品质的系统及方法。
技术介绍
可烧录型的光盘一般通过读取头发出的激光光束，照射在光盘上形成凹洞或相变形等记号，利用有记号及无记号间反射光量的差异，形成0与1的数字信号，达到记录数据的目的。激光光束功率的大小，需使光盘上记号的反射光量维持一定水准，功率太大或不足均会影响记号深浅形状，改变记号的光反射量，造成有记号及无记号间的反射光量差异难以识别，以致无法读取而烧录失败。 如图l所示，为现有技术的光盘数据结构。光盘IO由内圈至外圈，依序分为测试区(Power Calibration Area)ll、导入区(Lead-in Area) 12、使用者数据区(User DataArea)13及导出区(Lead-out Area) 14等。其中，测试区11提供烧录时实际测试激光光束功率的区域。由于各种厂牌的光盘因制程、技术、涂层及材料成份等差异，对激光光束的感应灵敏度不同，光盘制造厂商在导入区12记录指定的激光光束功率Pi及表示记号烧录品质的非对称参数(Asymmetry) P i。使用者数据区13为实际烧录数据的区域，而导出区14提供光盘终止的标记。 由于每一光盘机及光盘均存在个别的特性差异，一般光盘机在烧录前，先读取导入区12厂商指定的激光光束功率Pi及非对称参数Pi。以预设的差值，对指定的功率Pi各向上及向下加减7个差值，形成15个等差的测试功率。接着在测试区11，以15个测试功率实际烧录数据，然后读出每一测试功率烧录记号，并检测其非对称参数P。选择最接近厂商指定非对称参数13 i的功率，作为该光盘的烧录功率，以完成最佳功率测试控制(Optim咖Power Control,简称0PC)。 然而，最佳功率测试控制由等差阶段式的15个测试功率中，选择最接近厂商指定非对称参数P i的测试功率，离最佳烧录品质的非对称参数P i尚有一段差距，并无法确保烧录记号获得最佳品质。此外，最佳功率测试控制是在内圈完成。执行烧录时，因光盘内外圈移动速度不同、倍数区间读速的转换或烧录温度的变化等，将造成烧录记号的非对称参数P无法维持一定，而影响烧录记号品质。 为了调整激光光束功率，维持一定的非对称参数13 ，台湾公告第1276083号「烧录光盘的方法及相关系统」专利申请，事先针对不同厂牌种类的光盘、光盘机、转速及烧录速度等进行测试，形成不同非对称参数P差异量与其对应功率补偿量的数据库，存储在光盘机中，以便非对称参数P改变时，对照出对应的功率补偿量进行激光光束功率补偿。但是，数据库需测试现存所有的光盘机及光盘，建置的工作太过于繁复。且新厂牌及新种类的光盘机或光盘一直不断的出现，旧机种及光盘无法立即适用。另外，即使相同厂牌、种类的光盘机或光盘，因制程、组装、材料或均匀度的误差，亦会造成各别光盘机或光盘的特性变异，无法适用事先存储的数据，让烧录记号的品质不能维持一定，甚至无法读取而导致烧录失败。因此，已知光盘机在烧录功率补偿的系统及方法上，仍有问题亟待解决。
技术实现思路
本专利技术的目的在提供一种烧录功率补偿系统，由检测单元监控烧录记号的非对称参数P ，利用计算单元近似成的线性测试功率函数，获得功率补偿量，控制功率补偿单元调整烧录功率，将烧录记号的非对称参数P控制在可接受的范围内。 本专利技术的另一目的在提供一种烧录功率补偿方法，通过将最佳功率测试的数据，近似成线性测试功率函数，利用指定的非对称参数，取得精确的烧录功率，以提升烧录品质。 本专利技术的再一 目的在提供一种烧录功率补偿方法，利用近似成线性测试功率函数，因应烧录中非对称参数的变化，快速计算出烧录功率补偿量，以维持烧录品质。 为了达到前述专利技术的目的，本专利技术的烧录功率补偿系统，由控制单元控制主轴马达转动可录式的光盘，并控制读取头投射激光光束至光盘，读取或烧录光盘的记号。将读取或烧录记号的数据暂存存储单元。计算单元将最佳功率测试控制的测试功率及对应的非对称参数，近似成线性测试功率函数，并计算检测单元检测的非对称参数差值及对应的功率补偿量。利用功率补偿单元调整激光光束功率，以控制烧录记号的品质在可接受范围内。 本专利技术的烧录功率补偿方法，首先读取指定激光光束功率，进行最佳功率测试；将该最佳功率测试的测试值近似成线性的测试功率函数；读取指定非对称参数，代入该测试功率函数计算出最佳烧录功率，作为现行的烧录功率；进行烧录数据；检查烧录品质，检测已烧录记号的非对称参数；计算该检测的非对称参数与目标非对称参数的差值；利用测试功率函数计算非对称参数差值相对应的功率补偿量；以功率补偿量补偿现行的激光光束功率。 本专利技术的测试功率函数为 y = a*x+b 其中a，b为系数 y为激光光功率功率 x为非对称参数。 利用现行烧录功率Pn、检测非对称参数Pn及目标非对称参数P t代入，求取目标烧录功率Pt = a*(|3 t-Pn)+Pn，以获得功率补偿量=Pt-Pn。并可利用计算非对称参数与目标非对称参数的差值后，进一步检查非差值是否大于预定值？假如差值不大于预定值，维持现行功率，假如差值大于预定值，再进行功率补偿量。附图说明 图1为现有技术的光盘数据结构图。 图2为本专利技术烧录功率补偿系统的功能方块图。 图3为本专利技术最佳功率测试控制的流程图。 图4为本专利技术最佳功率测试控制测试值的分布图。 图5为本专利技术烧录功率补偿方法的流程图。主要元件符号说明520烧录功率补偿系统21控制单元22主轴马达23读取头24存储单元25检测单元26计算单元27功率补偿单元30光盘31测试区32导入区33使用者数据区34导出区具体实施例方式有关本专利技术为达成上述目的，所采用的技术手段及其功效，兹举优选实施例，并配合附图加以说明如下。 请参考图2，为本专利技术烧录功率补偿系统的功能方块图。图2显示本专利技术烧录功率补偿系统20包含控制单元21、主轴马达22、读取头23、存储单元24、检测单元25、计算单元26及功率补偿单元27等。其中控制单元21为一微处理器，用以控制主轴马达22转动一光盘30。光盘30为一可录式光盘，由内圈至外圈包含测试区31、导入区32、使用者数据区33及导出区34。控制单元21另控制读取头23投射激光光束至光盘30，并沿着光盘30的径向移动，读取或烧录光盘30的记号。存储单元24用以暂存读取或烧录的记号数据。 此外，检测单元25受控制单元21控制，用以检测读取记号的非对称参数13 。而控制单元21控制计算单元26，针对最佳功率测试控制的15个测试功率及对应的非对称参数P，以线性近似(Linear Fitting)的方式，计算成线性的测试功率函数。计算单元26并可根据检测单元25检测已烧录记号的非对称参数P，计算非对称参数13与预设目标非对称参数P t的差值及其对应的功率补偿量，经由功率补偿单元27，补偿读取头23投射的激光光束功率，将烧录记号的品质控制在可接受的范围内。 请同时参考图2、图3及图4，图3为本专利技术进行最佳功率测试控制的流程，图4为本专利技术最佳功率测试控制测试值分布图。本专利技术烧录功率补偿系统20开始烧录时，如图3所示，首先在步骤Rl，由控制单元21控制读取头23至导入区32，读取厂商指定的激光光功率Pi及非对称参数Pi。利用厂本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种烧录功率补偿系统，包含：一控制单元，控制主轴马达转动可录式的光盘，另控制读取头投射激光光束至光盘，读取或烧录光盘的记号；一存储单元，由控制单元控制，暂存该读取或烧录记号的数据；一检测单元，由控制单元控制检测记号的非对称参数；一计算单元，由控制单元控制将最佳功率测试控制的测试功率及其对应的非对称参数，近似成线性测试功率函数，并以线性测试功率函数，计算检测单元检测的非对称参数与预设目标非对称参数的差值及差值对应的功率补偿量；以及一功率补偿单元，接收计算单元的功率补偿量，调整读取头的激光光束功率。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄朝群，黄识忠，
申请(专利权)人：广明光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]