一种连续扫描三维锥束工业ＣＴ角度增量确定方法技术

本发明专利技术属于Ｘ射线计算机层析成像（ＣＴ）技术领域，具体为一种连续扫描三维锥束工业ＣＴ角度增量确定方法，步骤为：（１）进行单圆轨道锥束ＣＴ扫描，获得一组二维投影图像；（２）对步骤（１）中二维投影图像进行对数解调，获得一组二维线积分图像；（３）计算步骤（２）中第一幅二维线积分图像与步骤（２）中其他二维线积分图像的相关系数，形成一个一维相关系数数组；（４）搜索步骤（３）获得的一维相关系数数组中的最大值，记录下该最大值在该数组中的序号；（５）将步骤（４）获得的最大值对应的序号减１，并除２π，结果即为连续扫描三维锥束工业ＣＴ的角度增量。本发明专利技术实现过程简单、高效，精度高，不需要特殊的硬件和额外的锥束扫描投影数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种连续扫描三维锥束工业CT角度增量确定方法，属于X射线计算机 层析成像(CT)

技术介绍
在X射线CT系统中，X射线源发出X射线，从不同角度穿过被检测物体的某一区 域，放置于射线源对面的探测器在相应角度接受，然后根据各角度射线不同程度的衰减，利 用一定的重建算法和计算机进行运算，重建出物体被扫描区域的射线线衰减系数分布映射 图像，从而实现由投影重建图像，无损地再现物体在该区域内的介质密度、成分和结构形态 等特征。 因为较高的成像效率，基于面阵探测器的X射线三维锥束工业CT成像技术在航 空、航天、核工业等领域得到了越来越广泛的应用。通常，这类系统采用单圆轨道锥束扫描 方式实施CT扫描。在这种扫描方式下，X射线源和探测器是静止的，而物体放置于转台，在 360°范围内步进旋转；探测器在每个扫描角度下采集透过物体的X射线投影信号，形成一 组二维投影图像；最后，基于这组二维投影图像和FDK类型的重建算法重建物体三维CT图 像。这类系统的成像速度主要由扫描速度和重建速度决定。目前，由于图形处理单元(GPU) 及其相应并行运算架构CUDA的应用，锥束CT的重建速度已显著本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种连续扫描三维锥束工业ＣＴ角度增量确定方法，其特征在于包括下列步骤：（１）进行单圆轨道锥束ＣＴ扫描，获得一组二维投影图像；（２）对步骤（１）中所述二维投影图像进行对数解调，获得一组二维线积分图像；（３）计算步骤（２）中第一幅二维线积分图像与步骤（２）中其他二维线积分图像的相关系数，形成一个一维相关系数数组；（４）搜索步骤（３）获得的一维相关系数数组中的最大值，记录下该最大值在该数组中的序号；（５）将步骤（４）获得的最大值对应的序号减１，并除２π，结果即为连续扫描三维工业ＣＴ的角度增量。

【技术特征摘要】
一种连续扫描三维锥束工业CT角度增量确定方法，其特征在于包括下列步骤(1)进行单圆轨道锥束CT扫描，获得一组二维投影图像；(2)对步骤(1)中所述二维投影图像进行对数解调，获得一组二维线积分图像；(3)计算步骤(2)中第一幅二维线积分图像与步骤(2)中其他二维线积分图像的相关系数，形成一个一维相关系数数组；(4)搜索步骤(3)获得的一维相关系数数组中的最大值，记录下该最大值在该数组中的序号；(5)将步骤(4)获得的最大值对应的序号减1，并除2π，结果即为连续扫描三维工业CT的角度增量。2. 根据权利要求l所述的一种连续扫描三维锥束工业CT角度增量确定方法，其特征在 于所述步骤(1)中进行单圆轨道锥束CT扫描，获得一组二维投影图像步骤为(1. 1)将被扫描物体放置于三维锥束工业CT系统转台，确保任一扫描角度下，物体被 锥束覆盖；(1. 2)以锥束射线对物体实施透照，同时，检台匀速连续旋转，由面阵探测器以固定采 样帧频连续采集透射过物体的射线投影，获得二维投影图像；(1.3)当检台旋转380度时，探测器停止采样，检台和射线源同时停止，即完成一次单 圆轨道锥束CT扫描；(1. 4)当扫描结束，将面阵探测器获取的多个二维投影图像按采集时间顺序排列起来， 形成一组二维投影图像I (i， m， n)，其中，i表示扫描角度，m和n是某一探测通道在面阵探 测器上的位置。3. 根据权利要求l所述的一种连续扫描三维锥束工业CT角度增量确定方法，其特征在 于所述的步骤(2)中对步骤(1)中所述二维投影图像进行对数解调，获得一组二维线积分 图像的方法如下<formula>formula see original document page 2</formula>/(,，OT, )其中，P(i， m，...

【专利技术属性】
技术研发人员：傅健，江柏红，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]