一种适用于高能Ｘ射线ＤＲ扫描系统的射线能量波动校正方法技术方案

本发明专利技术公开了一种适用于高能Ｘ射线ＤＲ扫描系统的射线能量波动校正方法，该校正方法首先得到原始ＤＲ图像每行的参考射线强度Ｉ０（ｚ），并利用Ｉ０（ｚ）对原始ＤＲ图像中的每行数据进行对数变换得到第一变换ＤＲ图像Ｉ１（ｙ，ｚ）；然后对Ｉ１（ｙ，ｚ）进行列平均得到一维图像数列ｐ（ｚ），利用高通滤波器对ｐ（ｚ）进行滤波得到高频成分ｐＨ（ｚ）；最后采用Ｉ１（ｙ，ｚ）中的每列数据减去ｐＨ（ｚ）得到第二变换ＤＲ图像Ｉ２（ｙ，ｚ），并对Ｉ２（ｙ，ｚ）进行反色变换得到校正后的最终ＤＲ图像Ｉｃｏｒｒ（ｙ，ｚ）。本发明专利技术的校正方法能够对加速器能量波动造成的伪影进行有效的校正，从而提高了图像质量，有助于图像的判读与缺陷的识别。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种适用于高能X射线DR(Digital Radiography)扫描系统射线能 量波动的校正方法，可用于工业领域高能X射线数字成像、计算机断层扫描(CT-Computed Tomography)成像过程中的系统校正。
技术介绍
对于基于线阵探测器高能X射线DR扫描系统，其结构如图1所示，加速器1发出 的扇形射线束2穿过被扫描物体3后到达线阵列探测器4上，加速器1安装在加速器升降 立柱12上，线阵列探测器4安装在探测器升降立柱42上，为了实现对被扫描物体3的整体 透视，加速器1和线阵列探测器4分别沿加速器立柱12和探测器立柱42 (即ζ方向)同步 升降。扇形射线束2穿过被扫描物体3后强度发生变化，线阵列探测器4采集到射线的强 度变化信息。当加速器1和线阵列探测器4同步升降时，线阵列探测器4就采集到被扫描 物体3的整体透视图像，即DR图像。由图1可知，该DR图像的二维坐标系为yoz，即DR图 像坐标系，见图2上的标注。然而，对于实际的DR扫描系统，加速器1和线阵列探测器4在同步升降过程中，加 速器1发出的扇束射线2的能量存在波动，表现为随机性的涨落，从而造成线阵列探测器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种适用于高能Ｘ射线ＤＲ扫描系统的射线能量波动校正方法，其特征在于包括有下列步骤：　　步骤一：求取原始ＤＲ图像Ｉ（ｙ，ｚ）中每行的参考射线强度Ｉ↓［０］（ｚ）；　　参考射线强度Ｉ↓［０］（ｚ）为原始ＤＲ图像Ｉ（ｙ，ｚ）每行中接收到没有贯穿物体的射线强度的探测单元的输出值，一般取每行的前Ｎ个探测单元的输出值的均值，并用该均值作为该行数据的参考射线强度；　　所述参考射线强度与每行探测单元的输出值的关系为Ｉ↓［０］（ｚ）＝１／Ｎ＊Ｉ（ｙ，ｚ）；所述Ｎ＝３～５，且Ｎ＜＜Ｍ，Ｍ表示线阵列探测器的探测单元总数目，Ｎ表示参考探测单元的数目，ｙ表示在ＤＲ扫描系统坐标系下的Ｙ轴参数，ｚ表示在ＤＲ扫描系统坐标系下...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨民，刘永瞻，梁丽红，吴美金，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]