【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种高频异型针测试插座。
技术介绍
1、随着芯片技术的飞速发展,现有弹簧探针插座信号传输的信道较长,探针自身的感抗容抗比较高,对高频信号的传输质量不高。
2、芯片中信号传输频率也越来越高,传统的基于弹簧探针测试的插座结构遇到了严峻的挑战,需要新的结构的测试探针及相应的测试插座来应对需求。
3、如授权公告号为u11,639,956b2、授权公告日为2023.5.2的集成电路测试装置和方法中,公开了弹性体和探针,探针包括前端,前端延伸穿过孔,用于与待测试设备的引线或端子焊盘接合,以及尾端,尾端通过弹性体材料固定在主测试结构内。然而,该探针由一个弹性体固定,使得探针的装针作业、换针作业不便利,继而影响测试设备的寿命。
技术实现思路
1、为克服上述缺点,本技术的目的在于提供一种装针、换针便利、提高使用寿命的高频异型针测试插座。
2、为了达到以上目的,本技术采用的技术方案是:一种高频异型针测试插座,包括导向板、测试主体,所述导向板设置在测试主体的上端面,
...【技术保护点】
1.一种高频异型针测试插座,包括导向板(10)、测试主体,所述导向板(10)设置在测试主体的上端面,所述测试主体包括测试壳体(20)、高频探针(30)、弹性体(40),所述测试壳体(20)内设置有安装腔(21),所述高频探针(30)呈片状,所述高频探针(30)的下端通过弹性体(40)固定在安装腔(21)内,所述高频探针(30)的上端能伸出测试壳体(20)的上端面,其特征在于:
2.根据权利要求1所述的高频异型针测试插座,其特征在于:所述水平部(31)与垂直部(32)的相连处、所述垂直部(32)与倾斜部(33)的相连处均呈弧形过度状(S),与所述水平部(31
...【技术特征摘要】
1.一种高频异型针测试插座,包括导向板(10)、测试主体,所述导向板(10)设置在测试主体的上端面,所述测试主体包括测试壳体(20)、高频探针(30)、弹性体(40),所述测试壳体(20)内设置有安装腔(21),所述高频探针(30)呈片状,所述高频探针(30)的下端通过弹性体(40)固定在安装腔(21)内,所述高频探针(30)的上端能伸出测试壳体(20)的上端面,其特征在于:
2.根据权利要求1所述的高频异型针测试插座,其特征在于:所述水平部(31)与垂直部(32)的相连处、所述垂直部(32)与倾斜部(33)的相连处均呈弧形过度状(s),与所述水平部(31)、垂直部(32)贴合的弹性体(40)也呈弧形过度状(s)。
3.根据权利要求1所述的高频异型针测试插座,其特征在于:所述倾斜部(33)从下至上的宽度逐渐减小。
4.根据权利要求1所述的高频异型针测试插座,其特征在于:所述垂直部(32)的宽度分别大于水平部(31)、倾...
【专利技术属性】
技术研发人员:钱晓晨,蔡泓羿,府金庭,
申请(专利权)人:苏州和林微纳科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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