【技术实现步骤摘要】
本揭露系关于一种显影装置。
技术介绍
1、半导体集成电路(semiconductor integrated circuit,ic)的制造经历了迅速的发展。在集成电路材料和设计的技术进步已生产了好几代的集成电路,每一代的电路都比前一代更小且更复杂。然而,这些进步增加了工艺和制造集成电路的复杂性,为了实现这些进步,需要在集成电路工艺和制造中执行类似的显影。
2、在集成电路进化的工艺中,功能密度(即每个晶片面积的互连元件数量)通常在增加,同时几何尺寸(即,能够使用制造工艺形成的最小组件(或线条))已在减小。这种缩小工艺通常通过提高生产效率和降低相关成本带来好处。这种缩小也产生相对高的功率耗散值,这可能通过使用低功耗元件,如互补金属-氧化物-半导体(complementary metal-oxide-semiconductor,cmos)元件来解决。
技术实现思路
1、于一些实施方式中,显影装置包括显影腔体、晶圆夹持器、冲洗臂、冲洗喷嘴、夹具、遮光元件以及第一感测器。晶圆夹持器位于显影
...【技术保护点】
1.一种显影装置,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的显影装置,其特征在于,还包括:
3.如权利要求1所述的显影装置,其特征在于,还包括:
4.如权利要求1所述的显影装置,其特征在于,还包括:
5.如权利要求1所述的显影装置,其特征在于,还包括:
6.一种显影装置,其特征在于,包括:
7.如权利要求6所述的显影装置,其特征在于,还包括:
8.如权利要求7所述的显影装置,其特征在于,还包括:
9.一种显影装置,其特征在于,包括:
10.如权利要求9所述的显影
...【技术特征摘要】
1.一种显影装置,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的显影装置,其特征在于,还包括:
3.如权利要求1所述的显影装置,其特征在于,还包括:
4.如权利要求1所述的显影装置,其特征在于,还包括:
5.如权利要求1所述的显影装置,其特征在于,还包括:...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱宏华,古继龙,贺国平,
申请(专利权)人:台积电中国有限公司,
类型:新型
国别省市:
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