【技术实现步骤摘要】
本专利技术有关于一种瞬态侦测电路(transient detection circuit),特别是有关于 一种用以侦测静电放电(electrostatic discharge; ESD)的瞬态侦测电路。
技术介绍
对于集成电路而言,静电放电(Electrostatic discharge; ESD)事件为可靠 度上相当重要的课题之一。为了符合元件层级(component-levd)的ESD规范, 可将ESD保护电路加在CMOS IC的输入/输出单元(1/0 cell)以及电源线(VDD 及VSS)之中。除此之外,针对CMOSIC产品,在元件层级ESD应力中,系 统层级(system level)的ESD可靠度逐渐受到重视。根据电磁兼容 (electromagnetic compatibility; EMC)规范,对于系统层级的ESD可靠度测试 需更将严格。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种瞬态侦测电路,用以侦测静电放 电事件。为了实现上述目的,本专利技术提出一种瞬态侦测电路,耦接于一第一电源线 以及一第二电源线之间。该瞬态侦测电路包括, 一第一 ...
【技术保护点】
一种瞬态侦测电路,其特征在于,耦接于一第一电源线以及一第二电源线之间,该瞬态侦测电路包括: 一第一控制单元,产生一第一控制信号,当一静电放电事件发生时,该第一控制信号为一第一位准,当该静电放电事件未发生时,该第一控制信号为一第二位准; 一设定单元,用以设定一第一节点,当该第一控制信号为该第一位准,该第一节点被设定成该第二位准;以及 一稳压单元,用以维持该第一节点的位准,当该第一控制信号为该第二位准时,该第一节点被维持在该第二位准。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:柯明道,颜承正,廖期圣,陈东旸,
申请(专利权)人:奇景光电股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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