【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试参数的调试方法、芯片测试系统及方法。
技术介绍
1、在芯片测试系统中，除了测试必需的硬件设备以外，还需通过相应的测试系统控制工具对芯片测试的整个过程进行控制，并在芯片测试开始前对测试过程中的测试参数的范围进行调试。相关技术中的测试系统控制工具主要通过运行向量文件来执行功能测试，并获取对应的结果信息，在对功能测试的测试参数的范围进行调试时，测试系统控制工具通常可以对某一测试参数的范围进行调试，但无法满足部分测试场景下需要同时变化多个测试参数以执行功能测试的需求。
技术实现思路
1、在本实施例中提供了一种芯片测试参数的调试方法、芯片测试系统及方法，以解决相关技术中存在的测试系统控制工具无法同时变化多个测试参数以执行功能测试的问题。
2、第一个方面，在本实施例中提供了一种芯片测试参数的调试方法，所述方法包括：
3、获取被测芯片的测试项，以及所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列；
4、基于预设的遍历顺序，依次...
【技术保护点】
1.一种芯片测试参数的调试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数值序列的数量为n个且n≥1，所述基于预设的遍历顺序，依次从每个所述参数值序列中获取一个参数值包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述得到对应的测试结果之后，所述方法还包括：
6.一种芯...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试参数的调试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数值序列的数量为n个且n≥1，所述基于预设的遍历顺序，依次从每个所述参数值序列中获取一个参数值包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述得到对应的测试结果之后，所述方法还包括：
6.一种芯片测试系统，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：高平羽，曹庆，刘岩，张伟，朱新文，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。