【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试参数的调试方法、芯片测试系统及方法。
技术介绍
1、在芯片测试系统中，除了测试必需的硬件设备以外，还需通过相应的测试系统控制工具对芯片测试的整个过程进行控制，并在芯片测试开始前对测试过程中的测试参数的范围进行调试。相关技术中的测试系统控制工具主要通过运行向量文件来执行功能测试，并获取对应的结果信息，在对功能测试的测试参数的范围进行调试时，测试系统控制工具通常可以对某一测试参数的范围进行调试，但无法满足部分测试场景下需要同时变化多个测试参数以执行功能测试的需求。
技术实现思路
1、在本实施例中提供了一种芯片测试参数的调试方法、芯片测试系统及方法，以解决相关技术中存在的测试系统控制工具无法同时变化多个测试参数以执行功能测试的问题。
2、第一个方面，在本实施例中提供了一种芯片测试参数的调试方法，所述方法包括：
3、获取被测芯片的测试项，以及所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列；
4、基于预设的遍历顺序，依次从每个所述参数值序列中获取一个参数值，基于获取的参数值生成对应的测试信号施加于所述被测芯片并执行所述测试项，得到对应的测试结果，直至所述参数值序列中的所有参数值遍历完毕；
5、基于所述参数值序列中各参数值对应的测试结果，确定对应的测试参数的量产测试取值范围。
6、在其中的一些实施例中，所述获取所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列包括：
7、获取至少一个拉
8、基于所述拉偏系数值，以及预先存储的拉偏系数与测试参数的对应关系，获取所述拉偏系数序列对应的多个参数值序列，所述参数值序列中的各参数值与所述拉偏系数序列中的各拉偏系数值按顺序对应。
9、在其中的一些实施例中，所述获取所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列包括：
10、获取所述测试项中至少一个测试参数对应的起点参数值、步长值、参数值数量；
11、基于所述起点参数值、步长值、参数值数量，获取所述测试参数对应的参数值序列。
12、在其中的一些实施例中，所述参数值序列的数量为n个且n≥1，所述基于预设的遍历顺序，依次从每个所述参数值序列中获取一个参数值包括：
13、以n个所述参数值序列中任一参数值序列中的各参数值为第一坐标轴的各坐标点并以此类推，建立n维坐标系；
14、获取所述n维坐标系中的所有参数值交点，所述参数值交点的n维坐标分别对应n个坐标轴上的坐标点；
15、依次遍历所述参数值交点，每次获取一个所述参数值交点对应的n维坐标作为获取的参数值。
16、在其中的一些实施例中，在所述得到对应的测试结果之后，所述方法还包括：
17、将所述测试结果和所述参数值发送至用户界面并渲染为表格或图像进行显示。
18、第二个方面，在本实施例中提供了一种芯片测试系统，所述系统包括用户界面模块、测试引擎模块和驱动硬件模块，所述用户界面模块与所述测试引擎模块通信连接，所述测试引擎模块与所述驱动硬件模块电连接；
19、所述用户界面模块用于获取被测芯片的测试项，以及所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列；还用于基于所述参数值序列中各参数值对应的测试结果，确定对应的测试参数的量产测试取值范围；
20、所述测试引擎模块用于基于预设的遍历顺序，依次从每个所述参数值序列中获取一个参数值，基于获取的参数值生成对应的测试信号施加于所述被测芯片，向所述驱动硬件模块发送测试指令并得到对应的测试结果，直至所述参数值序列中的所有参数值遍历完毕；
21、所述驱动硬件模块用于基于所述测试引擎模块的测试指令执行所述测试项。
22、在其中的一些实施例中，所述测试引擎模块用于将所述测试结果和所述参数值发送至所述用户界面模块，所述用户界面模块将所述测试结果和所述参数值渲染为表格或图像进行显示。
23、第三个方面，在本实施例中提供了一种芯片测试方法，所述方法应用于如第二个方面所述的芯片测试系统，所述方法包括：
24、所述用户界面模块获取被测芯片的测试项以及所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列，并向所述测试引擎模块发送所述参数值序列和启动指令；
25、所述测试引擎模块基于所述启动指令启动测试流程，依次从每个所述参数值序列中获取一个参数值并进行参数校验；在所述参数校验通过的情况下，基于所述参数值修改所述测试项对应的测试参数，并向所述驱动硬件模块发送测试指令和所述测试参数；
26、所述驱动硬件模块基于所述测试指令和所述测试参数执行所述测试项，并将对应的测试结果发送至所述测试引擎模块；
27、所述测试引擎模块将所述测试结果和所述参数值发送至所述用户界面模块进行显示，并检测是否收到停止信号，在未收到所述停止信号的情况下重复执行上述步骤，直至所述参数值序列中的所有参数值遍历完毕，将所述测试参数修改为对应的初始值；
28、所述用户界面模块在所述参数值的遍历过程中依次接收对应的测试结果和参数值并渲染为表格或图像进行显示。
29、在其中的一些实施例中，所述方法还包括：
30、所述用户界面模块基于所述表格或图像，获取重测指令和对应的参数值，并发送至所述测试引擎模块；
31、所述测试引擎模块基于所述重测指令和对应的参数值，修改所述测试参数，并控制所述驱动硬件模块执行所述测试项，得到对应的重测结果并发送至所述用户界面模块进行显示。
32、在其中的一些实施例中，所述方法还包括：
33、所述测试引擎模块在收到停止信号的情况下，停止所述测试流程并将所述测试参数修改为对应的初始值。
34、与相关技术相比，在本实施例中提供的芯片测试参数的调试方法，通过获取被测芯片的测试项，以及所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列，得到待执行的具体测试项，以及该测试项中需要进行调试的参数值序列，参数值序列的数量可以是一个或多个；通过基于预设的遍历顺序，依次从每个参数值序列中获取一个参数值，基于获取的参数值生成对应的测试信号施加于被测芯片并执行所述测试项，得到对应的测试结果，直至所述参数值序列中的所有参数值遍历完毕，通过遍历的方式，每次从每个参数值序列中选取一个参数值生成测试信号，满足多个测试参数同时变化以执行测试项的需求，测试项的执行次数等于参数值序列中参数的数量；通过基于参数值序列中各参数值对应的测试结果，确定对应的测试参数的量产测试取值范围，完成测试项的参数调试，解决了测试系统控制工具无法同时变化多个测试参数以执行功能测试的问题。
35、本申请的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本申请的其他特征、目的和优点更加简明易懂。
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1.一种芯片测试参数的调试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数值序列的数量为n个且n≥1，所述基于预设的遍历顺序，依次从每个所述参数值序列中获取一个参数值包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述得到对应的测试结果之后，所述方法还包括：
6.一种芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括用户界面模块、测试引擎模块和驱动硬件模块，所述用户界面模块与所述测试引擎模块通信连接，所述测试引擎模块与所述驱动硬件模块电连接；
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述测试引擎模块用于将所述测试结果和所述参数值发送至所述用户界面模块，所述用户界面模块将所述测试结果和所述参数值渲染为表格或图像进行显示。
8.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法应用于
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试参数的调试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数值序列的数量为n个且n≥1，所述基于预设的遍历顺序，依次从每个所述参数值序列中获取一个参数值包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述得到对应的测试结果之后，所述方法还包括：
6.一种芯片测试系统，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：高平羽，曹庆，刘岩，张伟，朱新文，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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