温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请涉及一种芯片测试参数的调试方法、芯片测试系统及方法，所述调试方法包括：获取被测芯片的测试项，以及所述测试项中至少一个测试参数对应的参数值序列；基于预设的遍历顺序，依次从每个所述参数值序列中获取一个参数值，基于获取的参数值生成对应的测试...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。