存储器测试装置和存储器测试方法制造方法及图纸

技术编号:42610254 阅读:28 留言:0更新日期:2024-09-03 18:18
本申请涉及一种存储器测试装置和存储器测试方法,该存储器测试装置包括:测试仪,存储有用于对被测器件进行测试的测试向量,并被配置为将测试仪中存储的测试向量的信号施加给被测器件,以对被测器件进行测试;测试板,被配置为将被测器件与测试仪电连接,且被测器件在测试时装载在测试板上;测试室,测试板和被测器件在测试时位于测试室内,且测试室内的温度是可控制的,从而能够实现在高度灵活、低成本的测试系统上在更真实的应用程序测试环境中在多个不同温度下对存储器进行所有测试,避免了使用昂贵的测试设备和测试工具,大大降低了存储器的测试成本,并有利于提高测试质量。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及存储器测试,具体涉及一种存储器测试装置和存储器测试方法


技术介绍

1、存储器是智能设备和计算机最重要的组成部分,这些设备中的程序都运行于存储器中。存储器对于系统的性能和稳定性起着至关重要的作用。所以,必须要保证这些设备中使用的存储器的可靠性,针对存储器的测试很有必要。

2、然而,现有的存储器测试方案存在测试成本高的问题。


技术实现思路

1、本申请实施例提供一种存储器测试装置和存储器测试方法,以降低存储器的测试成本。

2、为了解决上述问题,本申请实施例提供了一种存储器测试装置,该存储器测试装置包括:测试仪,存储有用于对被测器件进行测试的测试向量,并被配置为将测试仪中存储的测试向量的信号施加给被测器件,以对被测器件进行测试;测试板,被配置为将被测器件与测试仪电连接,且被测器件在测试时装载在测试板上;测试室,测试板和被测器件在测试时位于测试室内,且测试室内的温度是可控制的。

3、其中,测试室的尺寸是可调节的。

4、其中,测试室具有可移动的墙体,且测试室的尺本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储器测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的存储器测试装置,其特征在于,所述测试室的尺寸是可调节的。

3.根据权利要求2所述的存储器测试装置,其特征在于,所述测试室具有可移动的墙体,且所述测试室的尺寸通过移动所述墙体而改变。

4.根据权利要求1所述的存储器测试装置,其特征在于,所述存储器测试装置还包括:

5.根据权利要求1所述的存储器测试装置,其特征在于,所述存储器测试装置还包括:

6.根据权利要求1所述的存储器测试装置,其特征在于,所述存储器测试装置还包括:

7.根据权利要求1所述的存储器测...

【技术特征摘要】

1.一种存储器测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的存储器测试装置,其特征在于,所述测试室的尺寸是可调节的。

3.根据权利要求2所述的存储器测试装置,其特征在于,所述测试室具有可移动的墙体,且所述测试室的尺寸通过移动所述墙体而改变。

4.根据权利要求1所述的存储器测试装置,其特征在于,所述存储器测试装置还包括:

5.根据权利要求1所述的存储器测试装置,其特征在于,所述存储器测试装置还包括:

6.根据权利要求1所述的存储器测试装置,其特征在于,所述存储器测试装置还包括:

7.根据权利要求1所述的存储器测试装置,其特征在于,所述测试仪包括:

8.根据权利要求7所述的存储器测试...

【专利技术属性】
技术研发人员:濮必得殷和国
申请(专利权)人:芯梦达半导体科技济南有限公司
类型:发明
国别省市:

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