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本申请涉及一种存储器测试装置和存储器测试方法，该存储器测试装置包括：测试仪，存储有用于对被测器件进行测试的测试向量，并被配置为将测试仪中存储的测试向量的信号施加给被测器件，以对被测器件进行测试；测试板，被配置为将被测器件与测试仪电连接，且被...
该专利属于芯梦达半导体科技（济南）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯梦达半导体科技（济南）有限公司授权不得商用。

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