【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种机器或结构部件的静或动平衡的测试，特别是涉及一种半导体晶片封装产品的。
技术介绍
为了确保产品在使用者操作环境及运送过程中能维持原有设计的品质，例如晶片 封装结构在封装完成之后，通常会进行最终成品测试，例如老化试验、电性试验、拉力试验、 焊球接合强度试验等，以确保其品质与可靠性，再进行组装成存储器(存储器即记忆体，本 文均称为存储器)模块(或称为模块)等电子产品，可模块化结合应用于一般日常用品中 常见的电脑主机、行动电话、数位相机、PDA等等，故对撞击与抵抗应力的特性要求更高，相 关必要测试变得更为重要。因此，业界在计算晶片封装结构或存储器模块的耐震度上，乃制 订一套严格的测试标准，例如根据封装业界标准的联合电子设备工程会议(JEDEC)所制订 的掉落试验(drop test)，以计算电子产品从高空掉落时的耐震能力。 检视现有习知的掉落试验过程中，可发现几个现象 1、试验的重复性低。难以手动定位待测试物件的高度与角度，造成每次落下的角度及碰撞的区域可能都不相同，因此每次试验可能得到完全不相同的结果。 2、实验的成本偏高，准备时间费时由于试验...
【技术保护点】
一种掉落测试装置，其特征在于其包含：一固定架，是设有一滑座，该滑座具有一水平滑轨；一掉落角度设定治具，是设置于该滑座上，并连接有一调整升降的试样架，该试样架提供一第一基准面，该掉落角度设定治具提供一第二基准面，该试样架的升降移动使得该第一基准面移动在一第一设定位置与一第一退离位置之间，该掉落角度设定治具在该水平滑轨的导引下作水平向移动，该第二基准面是移动在一第二设定位置与一第二退离位置之间；以及一夹具，当该夹具夹设一待测试物件时，在第一设定位置的该第一基准面是供贴触该待测试物件的一第一表面，在第二设定位置的该第二基准面是供贴触该待测试物件的一第二表面。
【技术特征摘要】
一种掉落测试装置，其特征在于其包含一固定架，是设有一滑座，该滑座具有一水平滑轨；一掉落角度设定治具，是设置于该滑座上，并连接有一调整升降的试样架，该试样架提供一第一基准面，该掉落角度设定治具提供一第二基准面，该试样架的升降移动使得该第一基准面移动在一第一设定位置与一第一退离位置之间，该掉落角度设定治具在该水平滑轨的导引下作水平向移动，该第二基准面是移动在一第二设定位置与一第二退离位置之间；以及一夹具，当该夹具夹设一待测试物件时，在第一设定位置的该第一基准面是供贴触该待测试物件的一第一表面，在第二设定位置的该第二基准面是供贴触该待测试物件的一第二表面。2. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的滑座的一侧缘是设有 一第一触止块，该掉落角度设定治具的一侧缘是连接设有一第二触止块，当该第二触止块 接触该第一触止块，该第二基准面是移动至该第二设定位置。3. 根据权利要求2所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的第二触止块是设有一 紧迫固定件，用以固定该掉落角度设定治具与该滑座的相对位置。4. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的掉落角度设定治具具 有一调整杆与一弹性元件，该弹性元件是提供该试样架移动朝向该第一设定位置的弹力， 该调整杆是限制该试样架朝向该第一设定位置的移动程度。5. 根据权利要求1或4所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的试样架的两侧各 连接有一滑件，该掉落角度设定治具的两侧各设有一供该滑件垂直滑移的垂直滑轨。6. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的固定架的底部是设有 多个调整脚，用以调整该水平滑轨的水平面。7. ...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏庭锋，
申请(专利权)人：力成科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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