一种砷化镓晶圆键合与解键合的方法技术

技术编号:42561777 阅读:30 留言:0更新日期:2024-08-29 00:31
本发明专利技术涉及一种砷化镓晶圆键合与解键合的方法,所述方法包括如下步骤:(1)对砷化镓晶圆的正面涂布透明保护层后进行第一热处理,然后对第一热处理得到的砷化镓晶圆的表面涂布液态蜡后进行第二热处理,得到预处理晶圆;(2)将载盘与步骤(1)所得预处理晶圆进行压合,然后对预处理晶圆进行背面加工;将预处理晶圆进行载盘剥离后依次进行第一清洗与第二清洗,得到加工后的砷化镓晶圆;步骤(1)所述透明保护层的熔点高于液态蜡的熔点。本发明专利技术通过在砷化镓晶圆的表面涂布透明保护层,可以防止后续的背面加工及载盘剥离过程中对正面空气桥或图形造成损伤,从而提高产品良率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体器件制备,具体涉及一种砷化镓晶圆键合与解键合的方法


技术介绍

1、砷化镓是一种重要的半导体材料,属ⅲ-ⅴ族化合物半导体,其具有高饱和电子速率、高电子迁移率等优异的电学特性,采用砷化镓制成的半导体器件具有高频、高温、低温性能好、噪声小、抗辐射能力强等优点,因而广泛应用于微波集成电路、红外线发光二极管、半导体激光器和太阳电池等领域。

2、在半导体器件的制造过程中,晶圆的键合与解键合工艺是背面制程中至关重要的步骤,晶圆通过涂蜡、烘烤、键合、减薄等步骤,将背面多余的砷化镓衬底去除,以提高晶圆散热便于后续背孔蚀刻及背面金属沉积。如cn115172146a公开了一种化合物半导体晶圆的制作方法,包括:提供一衬底,衬底的正面上依次形成化合物半导体晶圆的外延结构、正面器件结构以及引出金属层;覆盖正面器件结构形成钝化保护层;使化合物半导体晶圆的正面与第一支撑基板进行临时键合;对化合物半导体晶圆执行背面工艺;使薄片晶圆与第一支撑基板解键合,以及使薄片晶圆的背面通过热敏胶粘附在第二支撑基板上;于薄片晶圆的正面形成金属凸块,金属凸块与引出金属层相连本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种砷化镓晶圆键合与解键合的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述透明保护层包括透明PMGI涂层或透明PMMA涂层;

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述透明保护层为透明PMGI涂层时,所述涂布包括第一旋转涂布与第二旋转涂布;

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述第一热处理的温度为170-190℃;

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述液态蜡的主要成分包括萜烯酚树脂;

>6.根据权利要求1...

【技术特征摘要】

1.一种砷化镓晶圆键合与解键合的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述透明保护层包括透明pmgi涂层或透明pmma涂层;

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述透明保护层为透明pmgi涂层时,所述涂布包括第一旋转涂布与第二旋转涂布;

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述第一热处理的温度为170-190℃;

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,步骤(1)所述液态蜡的主要成分包括萜烯酚树脂;

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴垚鑫刘家兵
申请(专利权)人:合肥芯谷微电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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