【技术实现步骤摘要】
本技术属于光耦缺陷检测，具体涉及一种光耦缺陷检测装置。
技术介绍
1、光电耦合器简称光耦，是将电流大小转换为光线强弱信息。在光耦出厂之前需要对其外观等进行检测，从而判断是否有缺陷，现有的很多都是通过工作人员进行人工肉眼检测，该方式具有费时费力、精度低和效率低等问题。
2、因此，针对上述问题，予以进一步改进。
技术实现思路
1、本技术的主要目的在于提供一种光耦缺陷检测装置，其通过支架模块、驱动模块、放置模块和检测模块进行联动，通过检测相机进行拍摄辅助，从而对光耦进行外观缺陷检测，其具有效率高、精度高和实用性高等优点。
2、为达到以上目的，本技术提供一种光耦缺陷检测装置，用于检测光耦，包括支架模块、驱动模块、放置模块和检测模块，所述驱动模块安装于所述支架模块，所述放置模块和所述检测模块均安装于所述驱动模块并且所述检测模块位于所述放置模块的上方，其中：
3、所述支架模块包括第一竖架、第二竖架和第一横架，所述第一横架固定安装于所述第一竖架和所述第二竖架之间；p>
4、所述驱本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种光耦缺陷检测装置，用于检测光耦，其特征在于，包括支架模块、驱动模块、放置模块和检测模块，所述驱动模块安装于所述支架模块，所述放置模块和所述检测模块均安装于所述驱动模块并且所述检测模块位于所述放置模块的上方，其中：
2.根据权利要求1所述的一种光耦缺陷检测装置，其特征在于，所述第一竖架的底端设有第一垫块，所述第二竖架的底端设有第二垫块。
3.根据权利要求1所述的一种光耦缺陷检测装置，其特征在于，所述第一管套安装座的顶端设有第一位置传感器，所述第二管套安装座的顶端设有第二位置传感器，所述活动块的顶端安装有位置检测件。
4.根据权...
【技术特征摘要】
1.一种光耦缺陷检测装置，用于检测光耦，其特征在于，包括支架模块、驱动模块、放置模块和检测模块，所述驱动模块安装于所述支架模块，所述放置模块和所述检测模块均安装于所述驱动模块并且所述检测模块位于所述放置模块的上方，其中：
2.根据权利要求1所述的一种光耦缺陷检测装置，其特征在于，所述第一竖架的底端设有第一垫块，所述第二竖架的底端设有第二垫块。
3....
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：浙江恒拓电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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