温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本技术公开了一种光耦缺陷检测装置，用于检测光耦，包括支架模块、驱动模块、放置模块和检测模块，所述驱动模块安装于所述支架模块，所述放置模块和所述检测模块均安装于所述驱动模块并且所述检测模块位于所述放置模块的上方；所述支架模块包括第一竖架、第二...
该专利属于浙江恒拓电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江恒拓电子科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。