测试采样芯片的方法和测试装置、控制设备和存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种用于测试采样芯片的方法、测试装置、控制设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。该用于测试采样芯片的方法包括：根据与该采样芯片耦接的电池电芯的工作模式，配置跨接采样芯片的高压源的耦接方式，其中，该采样芯片用于采集电池电芯的信息，并且该高压源用于通过模拟电池电芯发生开路时采样芯片两端的电压；根据高压源的耦接方式，经由开关电路模拟电池电芯发生开路；以及确定采样芯片在电池电芯发生开路期间的工作状态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

技术实现思路

【技术保护点】

PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

pct国内申请，权...

【专利技术属性】
技术研发人员：周芳杰，楚乐，吴国秀，
申请(专利权)人：宁德时代新能源科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：