下载测试采样芯片的方法和测试装置、控制设备和存储介质的技术资料

文档序号:42308372

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本申请提供一种用于测试采样芯片的方法、测试装置、控制设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。该用于测试采样芯片的方法包括:根据与该采样芯片耦接的电池电芯的工作模式,配置跨接采样芯片的高压源的耦接方式,其中,该采样芯片用于采集电池电芯的信息...
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