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本申请提供一种用于测试采样芯片的方法、测试装置、控制设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。该用于测试采样芯片的方法包括:根据与该采样芯片耦接的电池电芯的工作模式,配置跨接采样芯片的高压源的耦接方式,其中,该采样芯片用于采集电池电芯的信息...该专利属于宁德时代新能源科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过宁德时代新能源科技股份有限公司授权不得商用。
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