【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子，尤其涉及一种存储控制器的测试方法及测试平台。
技术介绍
1、在存储芯片的读写操作过程通常需要由存储控制器进行控制操作，存储控制器是否能够准确工作直接影响存储芯片的读写准确性，因此，如何快速准确的对存储控制器进行测试是一个亟需解决的问题。
技术实现思路
1、本申请提供的存储控制器的测试方法及测试平台，用于准确地对存储控制器进行功能测试。
2、第一方面，本申请提供一种存储控制器的测试方法，所述方法应用于测试平台，所述测试平台包括：控制模块、转换模块以及存储模块；
3、所述控制模块，用于向存储控制器发送第一写控制信号；所述第一写控制信号用于指示所述转换模块对所述存储模块执行写操作；所述存储控制器为用于对双倍速率同步动态随机存取存储器进行控制的控制器；
4、所述存储控制器，用于根据所述第一写控制信号，向所述转换模块输出符合dfi协议的第二写控制信号；
5、所述转换模块，用于对接收到的第二写控制信号进行协议转换处理，输出符合目标协议的第...
【技术保护点】
1.一种存储控制器的测试方法，其特征在于，所述方法应用于测试平台，所述测试平台包括：控制模块、转换模块以及存储模块；
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二写控制信号包括：写指示信号、第一地址信号、第二待写入数据以及写使能信号；所述第一地址信号用于指示第二待写入数据的存储地址；
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二读控制信号中还携带有读指示信号以及读使能信号；
6.根据权利要求4所...
【技术特征摘要】
1.一种存储控制器的测试方法，其特征在于，所述方法应用于测试平台，所述测试平台包括：控制模块、转换模块以及存储模块；
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二写控制信号包括：写指示信号、第一地址信号、第二待写入数据以及写使能信号；所述第一地址信号用于指示第二待写入数据的存储地址；
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二读控制信号中还携带有读指示信号以及读使能信号；
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述转换模块，还用于在接收到的第二读数据之后，向所述存储控制器发送符合dfi协议的有效信号；所述有效信号用于指示存储控制器...
【专利技术属性】
技术研发人员：解俊彦，许鹏，刘洋，刘丹，
申请(专利权)人：合芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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