温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请提供的存储控制器的测试方法及测试平台，该方法应用于包括控制模块、转换模块和存储模块的测试平台，控制模块向存储控制器发送第一写控制信号，存储控制器根据第一写控制信号向转换模块输出符合DFI协议的第二写控制信号；转换模块基于第二写控制信号...
该专利属于合芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合芯科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。