【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光盘备份区管理结构及方法,特别是涉及可覆写式光 盘,建立管理结构,在烧录缺陷数据区块备份时,对备份区烧录品质耗损 的管理方法。
技术介绍
由于光盘的记号微小又密集,极易受到污渍沾染、灰尘、刮伤及不正 常烧录等破坏,产生无法读写的缺陷。可覆写的光盘提供缺陷管理机制, 让产生缺陷的数据,另行备份在光盘的备份区,以顺利读写光盘数据。如图1所示,为现有技术光盘缺陷数据备份的管理结构。现有技术可覆写光盘IO的数据轨由内圈至外圈,依序分为导入区(Leadln Area)ll、备 份1区(Backup Area 1) 12 、用户数据区(User Data Area)13、备份2区 (Backup Area 2)14及导出区(Lead Out Area)15等。导入区11具有一缺陷管 理区(Defect Management AREA,简称DMA) 16,利用缺陷管理表记录光盘 缺陷数据区块及其备份置换区块的相对应地址。当光盘在用户数据区13烧 录数据区块1、 2、 3、 4、 5时,先由缺陷管理表检查出数据区块2为缺陷 位置,并在备份1或2区中规划备份位置 ...
【技术保护点】
一种光盘备份区耗损管理结构,设在一可覆写的光盘中,该光盘包含导入区及备份区,该耗损管理结构是在导入区记录备份区中置换区块的地址及覆写次数的信息,作为选用为备份置换区块的依据。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:陈世国,许锦发,朱修明,
申请(专利权)人:广明光电股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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