【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光盘检查装置及方法，特别是涉及利用RF信号、跟踪错误信号、 聚焦错误信号等的缺陷检测。
技术介绍
以往提出了检查光盘有无缺陷的检查装置。例如，在下文所述的专利文献1中公 开了一种根据来自光盘的反射光来检测光盘有无损坏的技术。 图9表示该现有技术。根据现有技术的说明，1是CD-R盘，2是驱动盘1旋转的主 轴电机，3是进行该主轴电机2的驱动控制的主轴伺服电路，4是具有光检测器(未图示)的 光头，该光头射出照射盘1的激光束，接收由盘1反射的反射束，5是头伺服电路，其进行向 盘1照射的激光束的聚焦控制及跟踪控制，并进行驱动传送电机6将光头4本身向盘1的 径向传送的移动传送控制，7是控制主轴伺服电路3及头伺服电路5的伺服控制电路，8是 RF信号生成电路，相加从构成光检测器的特定的受光元件得到的各受光输出，生成主信号 输出，以由光头4的光检测器生成盘1的记录信号即RF信号，9是反射光量检测电路，检测 由该RF信号生成电路8生成的主信号输出的电平，检测盘1的反射光量。由RF信号生成 电路8生成的主信号输出除了提供给上述反射光量检测电路9之外，还将RF信号2值...
【技术保护点】
一种光盘检查装置，检查光盘的缺陷，其特征在于，具有：缺陷检测单元，从光盘的内周到外周检测上述光盘的缺陷；存储单元，存储检测出的上述缺陷的位置；以及错误率检测单元，在上述缺陷的位置使重放条件劣化，而从上述光盘重放数据并检测错误率。
【技术特征摘要】
JP 2008-10-15 2008-266441一种光盘检查装置，检查光盘的缺陷，其特征在于，具有缺陷检测单元，从光盘的内周到外周检测上述光盘的缺陷；存储单元，存储检测出的上述缺陷的位置；以及错误率检测单元，在上述缺陷的位置使重放条件劣化，而从上述光盘重放数据并检测错误率。2. 根据权利要求l所述的光盘检查装置，其特征在于，上述缺陷检测单元根据上述光盘的重放信号中包含的RF信号检测上述缺陷， 上述错误率检测单元通过在上述缺陷的位置减少提升上述RF信号的均衡器的提升量 来使上述重放条件劣化。3. 根据权...
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