一种对双天线终端进行上行信道测量的方法技术

技术编号:4220019 阅读:183 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种对双天线终端进行上行信道测量的方法,包括:将无线帧中的部分子帧与终端的一根天线相对应,其它子帧与终端的另一根天线相对应;终端发射信号时,在各子帧中携带探测Sounding信号,在该子帧对应的天线上发送给基站;基站接收信号后,对于各接收到的子帧,根据其携带的Sounding信号得到信道相关矩阵,用该信道相关矩阵作为该子帧所对应的天线的信道空间相关矩阵。采用本发明专利技术可以方便的区分出终端的不同发射天线,从而实现终端上行双天线到基站各天线信道的测量,还可以实时的更新上行信道参数,有利于下行波束赋形权值的更新。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种对双天线终端进行上行信道测量的方法,包括: 将无线帧中的部分子帧与终端的一根天线相对应,其它子帧与终端的另一根天线相对应; 终端发射信号时,在各子帧中携带探测Sounding信号,在该子帧对应的天线上发送给基站; 基站 接收信号后,对于各接收到的子帧,根据其携带的Sounding信号得到信道相关矩阵,用该信道相关矩阵作为该子帧所对应的天线的信道空间相关矩阵。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:林伟耿鹏马毅华
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:94[]

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