【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像检测，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、电子设备、汽车零部件、机械制品等产品在出厂前需要进行表面缺陷检测。这些产品的表面缺陷主要包括凹陷、凸起、划痕、气泡、裂纹等缺陷。
2、目前，在使用图像检测产品是否为良品时，通常是通过2d相机来拍摄产品图片，并根据产品图片中异常区域的形状、尺寸等信息来判断图像中是否存在缺陷，但由于2d相机拍摄图片只包含二维信息，容易出现缺陷检测结果的误判，导致缺陷检测的精度较低。
3、上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中通过产品图像中的二维信息来检测产品是否为良品时，容易出现缺陷检测结果的误判，导致缺陷检测的精度较低的技术问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供了一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括：
3、对待检测图像进行图...
【技术保护点】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括：
2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述目标光源图像确定目标异常区域的步骤，包括：
3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述同轴光源包括：第一同轴光源和第二同轴光源；所述根据所述高度异常区域对应的位置信息确定所述目标光源图像中同轴光源对应的目标光源图像中的目标异常区域的步骤，包括：
4.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述第一光源强度和所述第二光源强度确定所述目标异常区域对应的目标高度信息的步骤，包括：
5.如权...
【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括：
2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述目标光源图像确定目标异常区域的步骤，包括：
3.如权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述同轴光源包括：第一同轴光源和第二同轴光源；所述根据所述高度异常区域对应的位置信息确定所述目标光源图像中同轴光源对应的目标光源图像中的目标异常区域的步骤，包括：
4.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述第一光源强度和所述第二光源强度确定所述目标异常区域对应的目标高度信息的步骤，包括：
5.如权利要求4所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述第一入射角度、所述第二入射角度、所述第一光源强度和所述第二光源强度确定所述目标异常区域对应的目标高度信息...
【专利技术属性】
技术研发人员：张辉，王景泰，
申请(专利权)人：北京阿丘机器人科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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