调试模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:42107136 阅读:31 留言:0更新日期:2024-07-25 00:30
本发明专利技术实施例提供一种调试模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质,该方法包括:构建在所述测试平台中运行的软件模拟模型;所述软件模拟模型包括用于测试所述调试模块内寄存器的JTAG读写模型、用于测试数据读写的处理器核模型以及用于测试内存访问的内存模型;根据所述软件模拟模型的类型,在预设的测试任务库中,分别获取不同类型对应的目标测试任务;所述测试任务库中有预先构建的至少一个测试任务;根据所述目标测试任务,构建所述调试模块的目标测试用例;基于所述目标测试用例,对所述调试模块进行测试。本发明专利技术可以提高调试模块的测试便捷性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机,尤其涉及一种调试模块的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。


技术介绍

1、在处理器进行研发的过程中,到研发后期时会将处理器回片,即是指将芯片进行整颗封装和组装。在回片后,很难观察到处理器内部的运行状态,需要通过片内调试模块(dm,debug module)去读写处理器的寄存器、存储器以及执行其他控制操作,以了解处理器内部状态。因此需要保证片内调试模块具有相关的读写和控制功能。

2、目前,是搭建调试场景,调试场景包括上位机、片内调试模块和处理器内核,并构建上位机向片内调试模块输入的调试命令以及内核侧的代码用例,以对片内调试模块进行测试。

3、但是目前的方案,不仅需要搭建上位机、片内调试模块和处理器内核这一具体场景,还要分别构建相关的调试命令和内核代码,导致片内调试模块的测试过程很繁琐。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供一种调试模块的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质,可以解决相关技术中调试模块的测试过程繁琐问题。

2、为了解决上述问题,本专本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种调试模块的测试方法,其特征在于,应用于测试平台,所述测试平台连接到调试模块,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标测试任务,构建所述调试模块的目标测试用例的步骤,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试平台中还运行有参考模型;所述基于所述目标测试用例,对所述调试模块进行测试的步骤,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述目标测试用例输入到所述调试模块和所述参考模型,获取所述软件模拟模型输出的测试数据和所述参考模型输出的参考数据的步骤,包括:

>5.根据权利要求4...

【技术特征摘要】

1.一种调试模块的测试方法,其特征在于,应用于测试平台,所述测试平台连接到调试模块,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标测试任务,构建所述调试模块的目标测试用例的步骤,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试平台中还运行有参考模型;所述基于所述目标测试用例,对所述调试模块进行测试的步骤,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述目标测试用例输入到所述调试模块和所述参考模型,获取所述软件模拟模型输出的测试数据和所述参考模型输出的参考数据的步骤,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述目标测试用例包括各个软件模拟模型对应的子测试用例;所述将所述目标测试用例输入到所述软件模拟模型,获取所述软件模拟模型输出的测试信号的步骤,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述软件模拟模型为所述jtag读写模型,所述jtag读写模型对应的子测试用例中包括寄存器地址设置任务、寄存器读取任务;

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述将所述测试信号输入到所述调试模块,获取所述调试模块输出的测试数据的步骤,包括:

8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述软件模拟模型为所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵鹏莫贞霞何伟
申请(专利权)人:北京开源芯片研究院
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1