【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机,尤其涉及一种调试模块的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。
技术介绍
1、在处理器进行研发的过程中,到研发后期时会将处理器回片,即是指将芯片进行整颗封装和组装。在回片后,很难观察到处理器内部的运行状态,需要通过片内调试模块(dm,debug module)去读写处理器的寄存器、存储器以及执行其他控制操作,以了解处理器内部状态。因此需要保证片内调试模块具有相关的读写和控制功能。
2、目前,是搭建调试场景,调试场景包括上位机、片内调试模块和处理器内核,并构建上位机向片内调试模块输入的调试命令以及内核侧的代码用例,以对片内调试模块进行测试。
3、但是目前的方案,不仅需要搭建上位机、片内调试模块和处理器内核这一具体场景,还要分别构建相关的调试命令和内核代码,导致片内调试模块的测试过程很繁琐。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供一种调试模块的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质,可以解决相关技术中调试模块的测试过程繁琐问题。
2、为
...【技术保护点】
1.一种调试模块的测试方法,其特征在于,应用于测试平台,所述测试平台连接到调试模块,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标测试任务,构建所述调试模块的目标测试用例的步骤,包括:
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试平台中还运行有参考模型;所述基于所述目标测试用例,对所述调试模块进行测试的步骤,包括:
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述目标测试用例输入到所述调试模块和所述参考模型,获取所述软件模拟模型输出的测试数据和所述参考模型输出的参考数据的步骤,包括:
【技术特征摘要】
1.一种调试模块的测试方法,其特征在于,应用于测试平台,所述测试平台连接到调试模块,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标测试任务,构建所述调试模块的目标测试用例的步骤,包括:
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试平台中还运行有参考模型;所述基于所述目标测试用例,对所述调试模块进行测试的步骤,包括:
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述目标测试用例输入到所述调试模块和所述参考模型,获取所述软件模拟模型输出的测试数据和所述参考模型输出的参考数据的步骤,包括:
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述目标测试用例包括各个软件模拟模型对应的子测试用例;所述将所述目标测试用例输入到所述软件模拟模型,获取所述软件模拟模型输出的测试信号的步骤,包括:
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述软件模拟模型为所述jtag读写模型,所述jtag读写模型对应的子测试用例中包括寄存器地址设置任务、寄存器读取任务;
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述将所述测试信号输入到所述调试模块,获取所述调试模块输出的测试数据的步骤,包括:
8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述软件模拟模型为所述...
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