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调试模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸
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文档序号:42107136
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本发明实施例提供一种调试模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质,该方法包括:构建在所述测试平台中运行的软件模拟模型;所述软件模拟模型包括用于测试所述调试模块内寄存器的JTAG读写模型、用于测试数据读写的处理器核模型以及用于测试内存访问的内...
该专利属于北京开源芯片研究院所有,仅供学习研究参考,未经过北京开源芯片研究院授权不得商用。
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