设备性能的确定方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提供一种设备性能的确定方法、装置、电子设备及存储介质，包括：获取目标设备的参数信息；基于所述参数信息确定所述目标设备的当前状态；响应于确定所述当前状态为目标状态，对所述目标设备的状态特征进行分析得到分析结果；基于所述分析结果确定所述目标设备的性能。本公开中，首先获取了待测设备的参数信息，进而基于此参数信息确定了待测设备的当前状态，若此当前状态为预定的状态(例如，故障)，则对待测设备的状态进行特征分析并得到分析结果。最后再基于此分析结果确定待测设备的性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及性能评估，尤其涉及一种设备性能的确定方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

1、对于长期贮存的电子产品，由于电子贮存性能退化机理的复杂性。不管是设计、工艺、材料、器件还是服役使用等因素造成的问题，最终都会导致电子产品贮存过程中性能参数退化甚至失效。因此，如何对长期贮存的电子产品的性能进行检测，成为了亟需解决的问题。

2、在现有技术中，通常通过电学、物理和化学等各种技术手段对长期贮存的产品进行特征分析，确定贮存产品的退化机理，最终确定出贮存产品的性能。但是，现有技术中对贮存产品进行特征分析时，其无法对不同层级的产品采取不同的分析手段，会使得产品性能的确定过程过于冗杂。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开的目的在于提出一种设备性能的确定方法、装置、电子设备及存储介质。

2、作为本公开的一个方面，提供了一种设备性能的确定方法，包括：

3、获取目标设备的参数信息；

4、基于所述参数信息确定所述目标设备的当前状态；

5、响应于确定所述当前状态本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种设备性能的确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数信息包括历史故障参数以及当前性能参数；

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述目标设备的当前状态之后，所述方法还包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述目标设备的状态特征进行分析得到分析结果之前，所述方法还包括：

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述目标设备的状态特征进行分析得到分析结果，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述分析结果确定所述目标设备的性能，...

【技术特征摘要】

1.一种设备性能的确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数信息包括历史故障参数以及当前性能参数；

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述目标设备的当前状态之后，所述方法还包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述目标设备的状态特征进行分析得到分析结果之前，所述方法还包括：

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述目标设备的状态特征进行分析得到分析结果，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐宇彬，张生鹏，徐如远，胡雨晴，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：