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本公开提供一种设备性能的确定方法、装置、电子设备及存储介质，包括：获取目标设备的参数信息；基于所述参数信息确定所述目标设备的当前状态；响应于确定所述当前状态为目标状态，对所述目标设备的状态特征进行分析得到分析结果；基于所述分析结果确定所述目...
该专利属于航天科工防御技术研究试验中心所有，仅供学习研究参考，未经过航天科工防御技术研究试验中心授权不得商用。

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