一种滑盖测试治具及芯片测试系统技术方案

本技术公开了一种滑盖测试治具及芯片测试系统，所述滑盖测试治具包括安装座、压片和滑盖；安装座上设有芯片放置槽，压片转动设置在安装座上，滑盖滑动设置在安装座上；压片具有两个相对的外表面，其中一者构造为能够插接至芯片放置槽内的第一斜面，另一者构造为能够抵接滑盖的第二斜面，第一斜面上设有外凸的下压块，第二斜面沿滑盖合盖方向逐渐升高。所述芯片测试系统包括所述的滑盖测试治具。根据测试芯片厚度的不同调整滑盖合盖位置，保证能够压紧而不损坏芯片，有效完成不同厚度的芯片的测试，实现了对不同厚度的芯片的兼容，大大拓展了使用范围，实用性更好。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于测试治具，具体涉及一种滑盖测试治具及芯片测试系统。

技术介绍

1、行业内，内存芯片测试装置指的是一种测试板，其上设置有芯片安装位，此安装位设有用于压紧芯片的结构(测试治具)，使内存芯片与测试板触点连接。这种测试装置通常模拟真实内存条，插于内存插槽内，对性能进行测试。另外，内存芯片由于不同厂商工艺区别，会造成同规格的芯片之间的厚度会有差别。

2、现有的测试治具为掀盖搭扣压块式，其压块内安装有弹簧，在治具扣合过程中，用于控制压合行程，可兼容芯片微小厚度公差。此类测试治具通过强行扣合来压紧芯片，力度可控性低，如遇到较厚芯片，容易损坏芯片。

技术实现思路

1、本技术的目的是提供一种滑盖测试治具及芯片测试系统，用以解决现有技术中存在的上述问题。

2、为了实现上述目的，本技术采用以下技术方案：

3、第一方面，本技术提供了一种滑盖测试治具，包括安装座、压片和滑盖；

4、安装座上设有芯片放置槽，压片转动设置在安装座上，滑盖滑动设置在安装座上；>

5、滑盖滑动本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种滑盖测试治具，其特征在于，包括安装座(1)、压片(2)和滑盖(3)；

2.根据权利要求1所述的滑盖测试治具，其特征在于，芯片放置槽(101)包括相互连通的放置槽本体(102)和压片卡槽(103)，放置槽本体(102)位于压片卡槽(103)下方并通过压片卡槽(103)连通外界；

3.根据权利要求2所述的滑盖测试治具，其特征在于，压片卡槽(103)具有相对的两端，其中一端构造为连接压片(2)的转动端，另一端构造为识别端，相应地，安装座(1)上设有位于识别端的刻度标识(4)，压片(2)一端通过转动连接转动端，压片(2)另一端能够抵压识别端。</p>

4.根据...

【技术特征摘要】

1.一种滑盖测试治具，其特征在于，包括安装座(1)、压片(2)和滑盖(3)；

2.根据权利要求1所述的滑盖测试治具，其特征在于，芯片放置槽(101)包括相互连通的放置槽本体(102)和压片卡槽(103)，放置槽本体(102)位于压片卡槽(103)下方并通过压片卡槽(103)连通外界；

3.根据权利要求2所述的滑盖测试治具，其特征在于，压片卡槽(103)具有相对的两端，其中一端构造为连接压片(2)的转动端，另一端构造为识别端，相应地，安装座(1)上设有位于识别端的刻度标识...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖俊生，王爱华，曹明德，
申请(专利权)人：皇虎测试科技深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：