一种测温方法、温度传感器、计算机设备及存储介质技术

技术编号:42068514 阅读:25 留言:0更新日期:2024-07-19 16:51
本发明专利技术涉及温度测试技术领域,具体涉及一种测温方法、温度传感器、计算机设备及存储介质。该测温方法包括当待测物体与温度传导件接触时,驱动激光器射出测试激光,以使得测试激光能够透过介质传输模组射出;获取每个光检测单元接收到的测试激光的光功率信息,根据光功率信息获取测试激光的偏移量,基于偏移量获取待测物体的温度信息。本发明专利技术通过测量测试激光的光功率信息获取测试激光在待测温度下通过介质传输块产生的偏移量,进而通过偏移量来获取待测物体的温度信息,为测量温度提供了新的思路,且实现本发明专利技术的测温方法只需要采用普通的光模块监测芯片和介质传输块即可实现精准的温度测量,本发明专利技术的测温方法具有易于实现、实用价值大的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及温度测试,特别是一种测温方法、温度传感器、计算机设备及存储介质


技术介绍

1、温度在物理、生物、化学等学科领域是一个很重要的参数,对其精确测量在化工、医药、食品等相关工业部门有重要意义和用途。测量温度的方法有高精度温度计法,sms(separated mode structure,分离模式结构)光纤法,布拉格光栅法和迈克尔逊干涉仪法等。示例性的,基于布拉格光栅法制作的温度传感器在制造过程需要精密的光学加工技术和设备,并且操作流程复杂,价格昂贵。

2、现有的测温方法在实际应用中存在价格昂贵、制作复杂和不易于实现的问题。


技术实现思路

1、本专利技术实施例要解决的技术问题在于,提供一种测温方法,以解决现有技术中测温方法在实际应用中存在价格昂贵、制作复杂和不易于实现的问题。

2、本专利技术实施例所提供的测温方法应用于温度传感器,所述温度传感器包括:介质传输模组,包括介质传输块,所述介质传输块的折射率能够随着温度变化;温度传导件,与所述介质传输块接触,用于与待测物体接触,将所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测温方法,其特征在于,所述方法应用于温度传感器,所述温度传感器包括:

2.根据权利要求1所述的测温方法,其特征在于,所述获取每个所述光检测单元接收到的所述测试激光的光功率信息,根据所述光功率信息获取所述测试激光的偏移量的步骤包括:

3.根据权利要求2所述的测温方法,其特征在于,所述获取每个所述光检测单元的接收光功率与所述激光器出光功率的功率比值的步骤包括:

4.根据权利要求2或3所述的测温方法,其特征在于,所述根据所述功率比值、所述垂直距离和所述长度获取所述偏移量的步骤,包括:

5.根据权利要求1-3任一项所述的测温方法,其特征在于...

【技术特征摘要】

1.一种测温方法,其特征在于,所述方法应用于温度传感器,所述温度传感器包括:

2.根据权利要求1所述的测温方法,其特征在于,所述获取每个所述光检测单元接收到的所述测试激光的光功率信息,根据所述光功率信息获取所述测试激光的偏移量的步骤包括:

3.根据权利要求2所述的测温方法,其特征在于,所述获取每个所述光检测单元的接收光功率与所述激光器出光功率的功率比值的步骤包括:

4.根据权利要求2或3所述的测温方法,其特征在于,所述根据所述功率比值、所述垂直距离和所述长度获取所述偏移量的步骤,包括:

5.根据权利要求1-3任一项所述的测温方法,其特征在于,所述基于所述偏移量获取所述待测温度的步骤包括:

6.根据权利要求5所述的测温...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘强
申请(专利权)人:昂纳科技深圳集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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