半导体存储装置以及控制方法制造方法及图纸

技术编号:42063024 阅读:19 留言:0更新日期:2024-07-19 16:47
提供一种半导体存储装置(100),具备:多个存储单元(112)、第1电源线(VDD)、第2电源线(VDDMC)、并联连接在第1电源线(VDD)与第2电源线(VDDMC)之间的第1晶体管(T01)和第2晶体管(T02)、以及电源控制电路(105),该电源控制电路(105)根据用于对第1模式(通常模式)与第2模式(低功耗模式)进行切换的第1信号(SDMC),(i)在第2模式时,使第1晶体管(T01)和第2晶体管(T02)截止,(ii)在从第2模式向第1模式切换时,使第1晶体管(T01)导通,在使第1晶体管(T01)导通后,使第2晶体管(T02)导通,第1模式是将电源电压供给到多个存储单元(112)的模式,第2模式是不将电源电压供给到多个存储单元(112)的模式。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及半导体存储装置以及控制方法


技术介绍

1、在sram(static random access memory:静态随机存取存储器)等半导体存储装置中,在电路块为待机状态的情况下,通过切断电源来抑制消耗电流的技术是众所周知的。并且,在从该待机状态的恢复中存在的课题是峰值电流的增加。对此,通过进行对多个电路块按照时间序列来依次启动等控制,来抑制峰值电流的技术也是以往就有的(例如,参照专利文献1以及专利文献2)。

2、(现有技术文献)

3、(专利文献)

4、专利文献1:日本专利第5580751号公报

5、专利文献2:日本专利第6578413号公报


技术实现思路

1、专利技术要解决的课题

2、在对多个电路块进行按时间序列来依次启动等控制的情况下,会担心控制的复杂化、或电路面积的增加等。

3、于是,本公开的目的在于提供一种既能够抑制峰值电流,又能够抑制伴随于此的控制的复杂化、或电路面积的增加的半导体存储装置以及控制方法。

4本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体存储装置,具备:

2.如权利要求1所述的半导体存储装置,

3.如权利要求1或2所述的半导体存储装置,

4.如权利要求3所述的半导体存储装置,

5.如权利要求1或2所述的半导体存储装置,

6.如权利要求1或2所述的半导体存储装置,

7.一种半导体存储装置,具备:

8.如权利要求7所述的半导体存储装置,

9.如权利要求7或8所述的半导体存储装置,

10.如权利要求9所述的半导体存储装置,

11.如权利要求7或8所述的半导体存储装置,

12.如权利要...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种半导体存储装置,具备:

2.如权利要求1所述的半导体存储装置,

3.如权利要求1或2所述的半导体存储装置,

4.如权利要求3所述的半导体存储装置,

5.如权利要求1或2所述的半导体存储装置,

6.如权利要求1或2所述的半导体存储装置,

7.一种半导体存储装置,具备:

8.如权利要求7所述的半导体存储装置,

9.如权利要求7或8所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:本谷笃志
申请(专利权)人:新唐科技日本株式会社
类型:发明
国别省市:

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