功能覆盖率的收集方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种功能覆盖率的收集方法及装置，涉及软件验证技术领域，为提高对功能覆盖率进行收集时的灵活性，并提高收集效率而发明专利技术。其中所述的方法包括：为参考模型中的处理路径设置可验证性标识；获取输入的验证数据；对所述验证数据进行处理，获取处理所述验证数据的处理路径的可验证性标识；根据所述处理验证数据的处理路径的可验证性标识，统计参考模型的功能覆盖率。本发明专利技术实施例主要应用在验证技术领域中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及软件验证
，尤其涉及一种功能覆盖率的收集方法及装置。
技术介绍
功能覆盖率是度量芯片验证质量的量化指标。按照面向Implementation(实 现)还是面向Specification (说明)来划分，可以将现有的功能覆盖率收集方 法分为以下两种1 )面向Implementation的功能覆盖率的收集方法，例如， 断言功能覆盖率的收集方法，参考模型(Reference Model, RM)功能路径覆盖 率的收集方法。2)面向Specification的功能覆盖率的收集方法，例如，传统 的验证规格覆盖率的收集方法。上述各种功能覆盖率的收集方法，分别针对不同的收集对象，借用各种有 效的收集手段，从各个角度对验证空间的覆盖效果进行了描述。其中，断言功 能覆盖率的收集方法是从RTL (register transfer level,寄存器传输级)实 现的角度描述芯片功能的，RM功能路径覆盖率的收集方法是从参考模型实现的 角度描述芯片功能，而传统的验证规格覆盖率的收集方法是从验证规格的角度 描述芯片功能。对于实现过程比较简单的功能，直接用验证规格就可以基本完成验证空间 的界定，这种情况下较多使用传统的验证规格覆盖率的收集方法；对于实现过 程比较复杂的功能，仅仅站在验证规格的层面上，有^f艮多验证细节无法提取出 来，这时必须依靠对设计实现过程的分析和分解，来完成验证空间的构建，因 此需要将验证规格覆盖率的收集方法，与断言功能覆盖率的收集方法或RM功能 路径覆盖率的收集方法结合起来，以充分描述验证空间的范围。面向Implementation的功能覆盖率的收集方法，直接从编码中提取功能信 息，其最直接的表现就是覆盖率定义的内容与设计实现过程强相关。这类方法 的优点是，可以根据实现细节对验证空间进行充分细化，保证测试点分解的粒 度达到最小化要求。受实际操作手段的限制，在利用断言功能覆盖率的收集方法时，验证人员 往往不方便直接在RTL代码中添加断言功能覆盖率收集语句，而设计人员又没 有足够的时间和精力完成断言覆盖收集。目前面向Implementation的功能覆盖 率的收集方法中主要采用RM功能路径覆盖率的收集方法。利用RM功能路径覆盖率的收集方法，验证人员可以在自己重新开发或部分 重用的参考模型代码里，根据器件功能要求，添加适当的功能路径覆盖率收集 语句(探针和节点)，在回归用例的同时完成功能覆盖率收集。如图1所示，变 量A、 B、 C及D中，变量A、 B、 D均可有两种取值，因此，在验证流程中可能 会出现两种分支；而变量C可有三种取值，相应的就形成了三种分支。因此， 在利用RM功能路径覆盖率的收集方法时，可在变量A、 B、 C及D相应的分支处 设置探针。那么，在对该流程中各个路径的功能覆盖率进行收集的时候，按照 表l中列举的方式进行。表l序号处理路径探针1开始-Pl-P3-结束P32开始-P1-P4-结束P43开始-P2-P5-结束P54开始-P2-P6-P8-结束P8 (1)5开始-P2-P6-P9-结束P9 (1)<table>table see original document page 7</column></row><table>由上可以看出，该方法充分利用了 Powerbench提供的自动收集工具，将收 集数据与统计过程交给收集工具完成，用户只需要进行覆盖率定义语句的插入 就可以实现对功能覆盖率的收集。该方法较好地提高了功能覆盖率收集效率， 减轻了验证人员进行功能覆盖率设计的工作量。但是，在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现RM功能路径覆盖率的收集方 法对于参考模型代码语句结构比较复杂，例如交杂了循环、分支、多层子功能 调用等结构的情况下，节点+探针组合有时无法充分满足功能覆盖率定义的 需求。利用RM功能路径覆盖率的收集方法降低了功能覆盖率收集的灵活性。另外，在灰盒设计验证架构下，需要在从模块级到系统级集成时，考虑功 能覆盖率收集语句的重用，以减少系统功能覆盖率收集过程中的重复劳动。而 RM功能路径覆盖率的收集方法，只能针对单个模块完成覆盖率的收集，比较难 以对来自同一报文的多个模块的功能覆盖率进行收集。
技术实现思路
一方面，本专利技术实施例提供了一种参考模型功能覆盖率的收集方法，以提 高对功能覆盖率进行收集时的灵活性，并提高收集效率。本专利技术实施例参考模型功能覆盖率的收集方法采用以下技术方案 一种功能覆盖率的收集方法，包括如下步骤 为参考模型中的处理路径设置可验证性标识； 获取输入的验证数据；对所述验证数据进行处理，获取处理所述验证数据的处理路径的可验证性 标识；根据所述处理验证数据的处理路径的可验证性标识，统计参考模型的功能 覆盖率。另 一 方面，本专利技术实施例还提供了 一种参考模型功能覆盖率的收集装置， 以提高对功能覆盖率进行收集时的灵活性，并提高收集效率。本专利技术实施例参考模型功能覆盖率的收集装置采用以下技术方案 一种功能覆盖率的收集装置，包括标识设置单元，用于为参考模型中的处理路径设置可验证性标识； 数据获取单元，用于获取输入的验证数据；标识获取单元，用于对所述验证数据进行处理，获取处理所述验证数据的 处理路径的可验i正性标识；功能覆盖率统计单元，用于根据所述处理验证数据的处理路径的可验证性 标识，统计参考模型的功能覆盖率。利用本专利技术实施例功能覆盖率的收集方法及装置，首先为参考模型中的处 理路径设置可^^证性标识，然后在运行参考模型时，通过收集处理验证数据的 处理路径的可验证性标识，来判断参考模型中各处理路径的执行情况，从而统 计出参考模型的功能覆盖率。因此，与现有技术相比，本专利技术实施例在保证了功能覆盖率收集的效率的同时，也提高了功能覆盖率收集的灵活性。 附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施 例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述 中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付 出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图l是现有技术中利用RM功能路径覆盖率的收集方法进行功能覆盖率收集的示意图2是本专利技术实施例功能覆盖率收集方法的流程图； 图3是本专利技术实施例功能覆盖率收集装置的结构图； 图4是本专利技术实施例功能覆盖率收集装置的示意图。 具体实施例方式为使本专利技术实施例的技术方案的优点更加清楚，下面结合附图对本专利技术的 实施例作进一步的详细i兌明。如图2所示，本专利技术实施例功能覆盖率的收集方法包括以下步骤步骤201 、为参考模型中的处理路径设置可验证性标识；为参考模型中的处理路径设置可验证性标识的过程，可按照如下方式进行按照参考模型中各功能模块的层级关系，将各功能模块分级成N个等级的 功能模块，其中N为大于等于1的整数；以最顶层功能模块为根节点，建立所 述最顶层功能模块下的各层级功能模块与所述最顶层功能模块的位置关系利 用所述位置关系，标识参考模型中的处理路径。其中，所述的位置关系可以用一个树状结构表示。例如，若按照参考模型 中各功能模块的层级关系，将各功能模块划分为2个等级。令最顶层的功能模 块的等级用l表示，在这个最顶层的功能模块下有本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种功能覆盖率的收集方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：　为参考模型中的处理路径设置可验证性标识；　获取输入的验证数据；　对所述验证数据进行处理，获取处理所述验证数据的处理路径的可验证性标识；　根据所述处理验证数 据的处理路径的可验证性标识，统计参考模型的功能覆盖率。

【技术特征摘要】
1、一种功能覆盖率的收集方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤为参考模型中的处理路径设置可验证性标识；获取输入的验证数据；对所述验证数据进行处理，获取处理所述验证数据的处理路径的可验证性标识；根据所述处理验证数据的处理路径的可验证性标识，统计参考模型的功能覆盖率。2、 根据权利要求1所述的功能覆盖率的收集方法，其特征在于，所述为参考模型中的处理路径设置可验证性标识的步骤包括按照参考模型中功能模块的层级关系，将功能模块分级成N个等级的功能模块，其中N为大于等于1的整数；以最顶层功能模块为根节点，建立所述最顶层功能模块下的各层级功能模块与所述最顶层功能模块的位置关系；利用所述位置关系，标识参考模型中的处理路径。3、 根据权利要求1所述的功能覆盖率的收集方法，其特征在于，所述获取处理所述验证数据的处理路径的可验证性标识的步骤包括对所述参考模型进行预期分析；通过记分牌存储所述处理验证数据的处理路径的可验证性标识以及预期分析结果。4、 根据权利要求1所述的功能覆盖率的收集方法，其特征在于，在根据所述处理验证数据的处理路径的可验证性标识，统计参考模型的功能覆盖率的步骤之前，所述方法还包括设置所述处理路径的可验证性标识与预先定义的功能覆盖率标识的对应关系。5、 根据权利要求4所述的功能覆盖率的收集方法，其特征在于，所述根据所述处理验证数据的处理路径的可验证性标识，统计参考模型的功能覆盖率的步骤具体为查询处理路径的可验证性标识与功能覆盖率标识的对应关系，得到与处理验证数据的处理路径的可验证性标识相对应的功能覆盖率标识；通过查询得到的功能覆盖率标识，统计出参考模型的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭晓健，左细生，刘卫，何忠秋，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]