一种基于UVM的存储控制器功能测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于UVM的存储控制器功能测试方法，包括：设置UVM环境的预定参数；其中，所述预定参数包括：UVM环境内部变量，随机化约束，被测存储控制器对应的地址信息和控制信号；利用所述预定参数生成测试激励；将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中，并分别监测所述被测存储控制器及测试模型的输出；对所述被测存储控制器及测试模型的输出进行对比，得到测试结果；该方法中的测试环境可以无缝集成到系统测试环境中，从而提高了验证效率，缩短了验证周期，实现可重用测试；本发明专利技术还公开了一种基于UVM的存储控制器功能测试系统。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子
，特别涉及一种基于UVM的存储控制器功能测试方法及系统。
技术介绍
随着芯片规模的增大，芯片设计中测试验证已成为流程中开销最大的工作，占整个设计周期的比例越来越大。验证的工作量已经占到整个SOC研发的70％到80％，因此提高芯片测试验证的效率已变得至关重要。因此，如何高效、全面地对存储控制器的功能进行测试，是本领域技术人员需要解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种基于UVM的存储控制器功能测试方法，该方法能够提高验证效率，缩短验证周期，实现可重用测试；本专利技术的另一目的是提供一种基于UVM的存储控制器功能测试系统。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种基于UVM的存储控制器功能测试方法，包括：设置UVM环境的预定参数；其中，所述预定参数包括：UVM环境内部变量，随机化约束，被测存储控制器对应的地址信息和控制信号；利用所述预定参数生成测试激励；将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中，并分别监测所述被测存储控制器及测试模型的输出；对所述被测存储控制器及测试模型的输出进行对比，得到测试结果。其中，所述设置UVM环境的预定参数，包括：定义UVM内部的uvm_sequence_item基类，进行UVM环境内部变量及随机化约束的设置集成；将被测存储控制器对应的地址信息和控制信号进行封装，作为UVM环境的TLM数据单元。其中，所述将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中，包括：将接收到的所述测试激励的TLM数据单元，通过指定的协议和时序关系转换为端口信号；分别将所述端口信号作为所述被测存储控制器及测试模型的输入。其中，还包括：收集预定功能覆盖率参数的数据信息；利用所述数据信息，计算得到功能覆盖率和/或代码覆盖率。其中，所述计算得到功能覆盖率和/或代码覆盖率之后，还包括：实时打印计算得到的功能覆盖率和/或代码覆盖率。本专利技术还提供一种基于UVM的存储控制器功能测试系统，包括：设置数据包模块，用于设置UVM环境的预定参数；其中，所述预定参数包括：UVM环境内部变量，随机化约束，被测存储控制器对应的地址信息和控制信号；Sequencer模块，用于利用所述预定参数生成测试激励；驱动器模块，用于将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中；监视器模块，用于分别监测所述被测存储控制器及测试模型的输出；对比模块，用于对所述被测存储控制器及测试模型的输出进行对比，得到测试结果。其中，所述设置数据包模块包括：参数设置单元，用于定义UVM内部的uvm_sequence_item基类，进行UVM环境内部变量及随机化约束的设置集成；封装单元，用于将被测存储控制器对应的地址信息和控制信号进行封装，作为UVM环境的TLM数据单元。其中，所述驱动器模块为将接收到的所述测试激励的TLM数据单元，通过指定的协议和时序关系转换为端口信号；分别将所述端口信号作为所述被测存储控制器及测试模型的输入的模块。其中，还包括：功能覆盖率参数收集模块，用于收集预定功能覆盖率参数的数据信息；功能覆盖率分析模块，用于利用所述数据信息，计算得到功能覆盖率和/或代码覆盖率。其中，还包括：打印模块，用于实时打印计算得到的功能覆盖率和/或代码覆盖率。本专利技术所提供的基于UVM的存储控制器功能测试方法，包括：设置UVM环境的预定参数；其中，所述预定参数包括：UVM环境内部变量，随机化约束，被测存储控制器对应的地址信息和控制信号；利用所述预定参数生成测试激励；将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中，并分别监测所述被测存储控制器及测试模型的输出；对所述被测存储控制器及测试模型的输出进行对比，得到测试结果；该方法中的UVM测试环境可以无缝集成到系统测试环境中，从而提高了验证效率，缩短了验证周期，实现可重用测试；本专利技术还提供了一种基于UVM的存储控制器功能测试系统。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例所提供的基于UVM的存储控制器功能测试方法的流程图；图2为本专利技术实施例所提供的存储控制器的结构示意图；图3为本专利技术实施例所提供的基于UVM的存储控制器功能测试系统的结构框图；图4为本专利技术实施例所提供的UVM测试平台的树形结构示意图；图5为本专利技术实施例所提供的UVM测试平台的结构示意图；图6为本专利技术实施例所提供的基于UVM的存储控制器功能测试系统的结构示意图。具体实施方式本专利技术的核心是提供一种基于UVM的存储控制器功能测试方法，该方法能够提高验证效率，缩短验证周期，实现可重用测试；本专利技术的另一核心是提供一种基于UVM的存储控制器功能测试系统。为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参考图1，图1为本专利技术实施例所提供的基于UVM的存储控制器功能测试方法的流程图；该方法可以包括：S100、设置UVM环境的预定参数；其中，所述预定参数包括：UVM环境内部变量，随机化约束，被测存储控制器对应的地址信息和控制信号；其中，UVM(Universal Verification Methodology，通用验证方法学)是一个以SystemVerilog类库为主体的验证平台开发框架，可以利用其可重用组件构建具有标准化层次结构和接口的功能验证环境。UVM相比于传统的定向验证方法，UVM验证方法学所产生的受约束随机激励增加了几种边界条件的可能性既可以进行随机化约束，能够更有效地发现设计中的缺陷，sv语言本身的面向对象风格使得UVM验证平台更有利于验证平台的维护、扩展和复用。预定参数的设置要根据用户具体被测存储控制器的实际情况进行确定。可选的，所述设置UVM环境的预定参数可以包括：定义UVM内部的uvm_sequence_item基类，进行UVM环境内部变量及随机化约束的设置集成；将被测存储控制器对应的地址信息和控制信号进行封装，作为UVM环境的TLM数据单元。其中，具体的可以用packet来定义UVM环境内部变量及随机化约束，可以通过集成uvm_sequence_item这个基类来实现，它是UVM环境中最基本的组件。在该测试验证环境中，将地址和控制信号封装在其中，作为UVM环境的TLM数据单元，由sequence产生。其中Sequence的选择与调度是由sequencer决定，一般在UVM环境中设置sequencer的默认default_sequence即可在UVM测试验证平台启动后自动加载其产生的随机数据包。S110、利用所述预定参数生成测试激励；其中，要测试被测存储控制器的正确性，就必须能够给被测存储器施加不同的激励。因此，一个测试验证平台最重要的功能在于产生各种各样不同的激励，并且观测被测存储控制器DU本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于UVM的存储控制器功能测试方法，其特征在于，包括：设置UVM环境的预定参数；其中，所述预定参数包括：UVM环境内部变量，随机化约束，被测存储控制器对应的地址信息和控制信号；利用所述预定参数生成测试激励；将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中，并分别监测所述被测存储控制器及测试模型的输出；对所述被测存储控制器及测试模型的输出进行对比，得到测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种基于UVM的存储控制器功能测试方法，其特征在于，包括：设置UVM环境的预定参数；其中，所述预定参数包括：UVM环境内部变量，随机化约束，被测存储控制器对应的地址信息和控制信号；利用所述预定参数生成测试激励；将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中，并分别监测所述被测存储控制器及测试模型的输出；对所述被测存储控制器及测试模型的输出进行对比，得到测试结果。2.如权利要求1所述的基于UVM的存储控制器功能测试方法，其特征在于，所述设置UVM环境的预定参数，包括：定义UVM内部的uvm_sequence_item基类，进行UVM环境内部变量及随机化约束的设置集成；将被测存储控制器对应的地址信息和控制信号进行封装，作为UVM环境的TLM数据单元。3.如权利要求2所述的基于UVM的存储控制器功能测试方法，其特征在于，所述将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中，包括：将接收到的所述测试激励的TLM数据单元，通过指定的协议和时序关系转换为端口信号；分别将所述端口信号作为所述被测存储控制器及测试模型的输入。4.如权利要求1-3任一项所述的基于UVM的存储控制器功能测试方法，其特征在于，还包括：收集预定功能覆盖率参数的数据信息；利用所述数据信息，计算得到功能覆盖率和/或代码覆盖率。5.如权利要求4所述的基于UVM的存储控制器功能测试方法，其特征在于，所述计算得到功能覆盖率和/或代码覆盖率之后，还包括：实时打印计算得到的功能覆盖率和/或代码覆盖率。6.一种基于UVM的存储控制器功能测试系统，...

【专利技术属性】
技术研发人员：高亚力，
申请(专利权)人：浪潮北京电子信息产业有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11