一种基于电容检测实现角度反馈的微镜制造技术

技术编号:41976743 阅读:16 留言:0更新日期:2024-07-12 12:09
本技术提供一种基于电容检测实现角度反馈的微镜,包括反射镜和支撑结构,所述支撑结构设置于所述反射镜的外周,用于支撑所述反射镜,所述微镜还包括:第一电容检测结构,设置于所述反射镜与所述支撑结构之间;以及基底层,设置于所述支撑结构上且位于远离所述反射镜的一侧,所述基底层上设置有第三梳齿结构。本技术提供一种基于电容检测实现角度反馈的微镜,当微镜偏转角度较大,依然可以实现该状态下的微镜偏转角度的反馈。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及微镜检测,尤其涉及一种基于电容检测实现角度反馈的微镜


技术介绍

1、微镜是一类可以有效实现光路调控的微纳芯片,广泛应用于投影、成像、激光导航等领域。目前应用的微镜中有通过叉指结构进行电容检测,达到偏转角度反馈的目的,传统梳齿结构的微镜,是利用结构层制作梳齿。但结构层通常厚度较小,梳齿可检测的范围较小,当微镜发生较大角度偏转后,固定梳齿与可动梳齿之间的重叠面积大幅减小,电容差变化量急剧减小,因此无法检测大角度偏转。


技术实现思路

1、本技术的目的在于克服现有技术存在的以上问题,提供一种基于电容检测实现角度反馈的微镜,当微镜发生较大角度的偏转时,依然可以检测到微镜的偏转角度,实现该状态下的微镜偏转角度的反馈。

2、为实现上述技术目的,达到上述技术效果,本技术通过以下技术方案实现:

3、本技术提供一种基于电容检测实现角度反馈的微镜,包括反射镜和支撑结构,所述支撑结构设置于所述反射镜的外周,用于支撑所述反射镜,所述微镜还包括:

4、第一电容检测结构,设置于所述反射镜与所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于电容检测实现角度反馈的微镜,包括反射镜和支撑结构,所述支撑结构设置于所述反射镜的外周,用于支撑所述反射镜,其特征在于,所述微镜还包括:

2.根据权利要求1所述的基于电容检测实现角度反馈的微镜,其特征在于,所述第三梳齿结构与所述第一梳齿结构之间也呈叉指结构设置,且所述第三梳齿结构与所述第一梳齿结构组成第二电容检测结构。

3.根据权利要求1所述的基于电容检测实现角度反馈的微镜,其特征在于,所述反射镜和所述支撑结构之间形成了环形沟槽,用于容纳所述第一电容检测结构。

4.根据权利要求1所述的基于电容检测实现角度反馈的微镜,其特征在于,所述微镜还包括...

【技术特征摘要】

1.一种基于电容检测实现角度反馈的微镜,包括反射镜和支撑结构,所述支撑结构设置于所述反射镜的外周,用于支撑所述反射镜,其特征在于,所述微镜还包括:

2.根据权利要求1所述的基于电容检测实现角度反馈的微镜,其特征在于,所述第三梳齿结构与所述第一梳齿结构之间也呈叉指结构设置,且所述第三梳齿结构与所述第一梳齿结构组成第二电容检测结构。

3.根据权利要求1所述的基于电容检测实现角度反馈的微镜,其特征在于,所述反射...

【专利技术属性】
技术研发人员:王健南汪海峰
申请(专利权)人:合肥领航微系统集成有限公司
类型:新型
国别省市:

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