一种用于检测大量程深度的检具制造技术

本技术公开了一种用于检测大量程深度的检具，用于测量待测件的深度，其中包括微分头机构、基座机构和测杆机构。微分头机构包括沿轴向延伸的旋钮、微分筒和螺杆，旋钮旋转时可带动螺杆轴向位移，并通过微分筒读取数据；基座机构包括磁力底座和导向管，测杆机构包括多个轴向拼接的测杆，磁力底座通过磁力吸附在待测件上，螺杆与测杆共同穿插在导向管中，且螺杆与测杆之间相互抵接。本技术通过可吸附磁力底座与导向管获得了更稳的检具固定效果与更小的偏差性，同时测杆可灵活拼接的特性也增大了检具的深度量程范围。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于检测大量程深度的检具，属于测量设备。

技术介绍

1、本部分的描述仅提供与本技术公开相关的背景信息，而不构成现有技术。

2、在对机械零部件或工程结构的深度进行测量时，为了确保较高的精度，通常采用深度卡尺进行测量，其精度可以达到0.01mm级，但是深度卡尺的结构强度较低，单个的深度卡尺的尺寸固定，导致其适用范围也较小，且深度卡尺的操作繁琐，测量步骤需要校零、锁紧、测力等步骤，影响测量效率，而更高精度的电子深度卡尺成本也较高。

3、尤其是当进行较大量程深度测量时，深度卡尺的测量稳定性显著变差，其测量结果偏差较大不可用。微分头可以实现更高精度的测量效果，但现如今面对大量程深度，现有技术中还没有稳定的测量方法以供微分头使用。

4、目前还没有一种用于检测大量程深度的检具可以有效的解决上述问题。

技术实现思路

1、本技术的目的是为了能提供一种用于检测大量程深度的检具，测量精度较高且适用深度广。

2、为了实现上述目的，本技术公开了以下一种用于检测大量程深度的检本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于检测大量程深度的检具，用于测量待测件的深度，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于检测大量程深度的检具，其特征在于：多个所述测杆之间螺纹连接，且多个所述测杆保持在同一轴向上。

3.根据权利要求1所述的用于检测大量程深度的检具，其特征在于：所述微分头机构还包括尺架与隔圈，所述尺架与所述隔圈套设在所述磁力底座与所述微分筒之间，其中，所述隔圈的一侧与所述磁力底座相抵接，所述隔圈的另一侧与所述尺架相抵接。

4.根据权利要求1所述的用于检测大量程深度的检具，其特征在于：所述磁力底座的两侧包括两个磁性单元，以使调整所述磁力底座的磁力强度。...

【技术特征摘要】

1.一种用于检测大量程深度的检具，用于测量待测件的深度，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于检测大量程深度的检具，其特征在于：多个所述测杆之间螺纹连接，且多个所述测杆保持在同一轴向上。

3.根据权利要求1所述的用于检测大量程深度的检具，其特征在于：所述微分头机构还包括尺架与隔圈，所述尺架与所述隔圈套设在所述磁力底座与所述微分筒之间，其中，所述隔圈的一侧与所述磁力底座相抵接，所述隔圈的另一侧与所述尺架相...

【专利技术属性】
技术研发人员：李向欣，周迎，吴继仁，
申请(专利权)人：施泰力工具苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：