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本技术公开了一种用于检测大量程深度的检具，用于测量待测件的深度，其中包括微分头机构、基座机构和测杆机构。微分头机构包括沿轴向延伸的旋钮、微分筒和螺杆，旋钮旋转时可带动螺杆轴向位移，并通过微分筒读取数据；基座机构包括磁力底座和导向管，测杆机构...
该专利属于施泰力工具（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过施泰力工具（苏州）有限公司授权不得商用。

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