【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体测试，特别是涉及一种板间连接故障检测方法及板间连接故障检测系统。
技术介绍
1、在半导体器件测试过程中，测试设备可通过通用测试接口(universal testinterface，uti)向负载板卡上的被测芯片提供电源、控制位(control bit，cbit)信号等可用资源。待测试的芯片放置在负载板卡上，使用uti提供的资源进行测试。不同的待测芯片对应不同的负载板卡。uti通常以板卡或线缆的方式，通过两端的连接器分别与主控板卡、负载板卡连接。uti中通常包含多个cbit信号的连接线，这些连接线需要与主控板卡和负载板卡的对应连接器的对应管脚正确连接。如果有一路cbit信号没有正确连接，则负载板卡上对应的器件就无法进行控制，因此，uti上各cbit信号的连接线是否连通以及连通的正确性非常重要。然而，当负载板卡上出现测试异常或某些功能无法正常使用时，很难确定是负载板卡上出现问题，还是uti的信号传输出现问题，导致故障无法准确定位。
技术实现思路
1、在本实施例中提供了一种板间连...
【技术保护点】
1.一种板间连接故障检测方法，其特征在于，所述方法应用于板间连接故障检测系统的主控板，所述板间连接故障检测系统包括通过至少一根连接线连接的主控板和测试板，所述主控板包括控制器、与所述控制器连接的至少一个第一检测电路，所述测试板包括至少一个第二检测电路，所述第一检测电路通过所述连接线与所述第二检测电路对应连接；所述第二检测电路与所述控制器通信连接，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一个检测回读信号的状态，确定所述目标连接线是否存在故障包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一个检测...
【技术特征摘要】
1.一种板间连接故障检测方法，其特征在于，所述方法应用于板间连接故障检测系统的主控板，所述板间连接故障检测系统包括通过至少一根连接线连接的主控板和测试板，所述主控板包括控制器、与所述控制器连接的至少一个第一检测电路，所述测试板包括至少一个第二检测电路，所述第一检测电路通过所述连接线与所述第二检测电路对应连接；所述第二检测电路与所述控制器通信连接，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一个检测回读信号的状态，确定所述目标连接线是否存在故障包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一个检测回读信号的状态，确定所述目标连接线是否存在故障包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一根连接线通过至少一个连接器与所述测试板连接，所述基于所述至少一个检测回读信号的状态，确定所述目标连接线是否存在故障包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一个检...
【专利技术属性】
技术研发人员：艾林，蔡贤博，丁威，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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