【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量，特别涉及一种测量机协同测量控制系统及方法。
技术介绍
1、在现代工业中，与大规模批量生产相对应的是小批量多品种的生产方式，由于竞争日趋激烈，这种生产方式的重要性也日益显露出来。小批量多品种生产方式对测量设备的要求是适用性强、测量效率高。同时由于质量要求的不断提高，还要求测量具有很高的准确性。
2、三坐标测量机越来越成为长度、缺陷测量领域用途最广泛，功能最丰富的测量仪器。以往的测量可以分为两种类型，一类是以截面尺寸、空间交点及圆柱、圆锥等为对象，适合于接触探测的测量任务，主要采用接触式测头完成；另一类是以大量细小的孔或槽为对象，或者是以线路板或易碎工件为对象，适合于非接触探测的测量任务，主要采用非接触式测头完成。但是有些零件中既有适用于接触式测量的部分，又有适用于非接触式测量的部分，若只用接触或者非接触测头，则无法精确测量。
技术实现思路
1、为了解决现有技术的问题，本专利技术提供了一种测量机协同测量控制系统及方法。
2、一方面，提供了一种测量机协...
【技术保护点】
1.一种测量机协同测量控制系统，其特征在于，所述协同测量控制系统包括：检测设备和标准品数据库系统；
2.根据权利要求1所述的一种测量机协同测量控制系统，其特征在于，所述处理器还包括：
3.根据权利要求2所述的一种测量机协同测量控制系统，其特征在于，所述处理器还包括：
4.根据权利要求3所述的一种测量机协同测量控制系统，其特征在于，所述处理器还包括：
5.根据权利要求1所述的一种测量机协同测量控制系统，其特征在于，所述标准品数据库系统包括：
6.一种测量机协同测量控制方法，其特征在于，所述协同测量控制方法包括：
7.根...
【技术特征摘要】
1.一种测量机协同测量控制系统，其特征在于，所述协同测量控制系统包括：检测设备和标准品数据库系统；
2.根据权利要求1所述的一种测量机协同测量控制系统，其特征在于，所述处理器还包括：
3.根据权利要求2所述的一种测量机协同测量控制系统，其特征在于，所述处理器还包括：
4.根据权利要求3所述的一种测量机协同测量控制系统，其特征在于，所述处理器还包括：
5.根据权利要求1所述的一种测量机协同测量控制系统，其特征在于，所述标准品数据库系统包括：
【专利技术属性】
技术研发人员：曹云祥，代满仓，
申请(专利权)人：西安德普赛科计量设备有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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