固态硬盘的时延退化分析方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及固态硬盘的时延退化分析方法、装置、设备及介质，该方法，包括：对固态硬盘组温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；对固态硬盘组顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再烘烤t1、t2、t3、或t4时间，然后进行只读测试，以记录t1、t2、t3、或t4对应的时延数据；对时延数据进行退化分析，并建立退化方程；对固态硬盘组中的每个固态硬盘样品进行退化计算，以得到退化寿命值；对退化寿命值分析处理，以得到分析结果。本发明专利技术通过设计四组高温加速试验，验证时延随时间线性增加的特性，然后建立退化方程，从而求解出每个样品的退化寿命并分析，准确产品数据保持能力的时延衰退的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及固态硬盘的时延退化分析，尤其是指固态硬盘的时延退化分析方法、装置、设备及介质。

技术介绍

1、固态硬盘的存储介质主流都是nand介质，其中数据保持能力是nand介质可靠性要考虑的重中之重。其数据保持能力不佳可能导致不可纠正的错误码、时延超时、性能下降等，而数据保持能力试验通常是采用温度加速寿命试验的方法来表征；对于数据保持能力的判据，业界公认是不允许存在不可纠正的错误码，但是对时延，业界还没有公认的要求，对于时延的量化要求更没有提及，导致无法满足生产需求。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供固态硬盘的时延退化分析方法、装置、设备及介质。

2、为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：

3、第一方面，本实施例提供了一种固态硬盘的时延退化分析方法，包括以下步骤：

4、对固态硬盘组进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；

5、对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t1本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，所述固态硬盘组进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4步骤中，采用试验加速因子AT进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；其中，Ttest为试验温度，Tfield为外场温度，EA为激活能，K为玻尔兹曼常数。

3.根据权利要求1所述的固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，所述对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t1时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t1对应的时延数...

【技术特征摘要】

1.固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，所述固态硬盘组进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4步骤中，采用试验加速因子at进行温度加速计算，以得到四组试验时间t1、t2、t3、t4；其中，ttest为试验温度，tfield为外场温度，ea为激活能，k为玻尔兹曼常数。

3.根据权利要求1所述的固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，所述对固态硬盘组进行顺序写和顺序读测试，以得到测试结果，再对固态硬盘组烘烤t1时间，然后对固态硬盘组进行只读测试，以记录t1对应的时延数据步骤中，顺序写、顺序读测试与只读测试的参数设置保持一致。

4.根据权利要求1所述的固态硬盘的时延退化分析方法，其特征在于，所述对所有的退化寿命值进行分析处理，以得到分析结果步骤中，分析结果指的是数据保持能力中时延参数的可靠度。

5.固态硬盘的时延退化分析装置，其特征在于，包括：第一计算单元、第一测试烘烤记录单元、第二测试烘烤记录单元、第三测试烘烤记录单元、第四测试烘烤记录单...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢奉洋，孙克庆，张华，
申请(专利权)人：东莞忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：