电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置制造方法及图纸

技术编号:41852637 阅读:16 留言:0更新日期:2024-06-27 18:29
本申请涉及电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置,适用于传力于预紧膜片,包括:基座、安装块、固定块以及压紧组件,基座呈柱状结构,且基座沿其轴向开设有通孔,安装块与固定块均设置在基座的通孔内,且安装块与固定块相邻设置,安装块呈环状结构,固定块呈环状结构,安装块与固定块相配合,适用于压紧预紧膜片的边缘,压紧组件位于基座的通孔内,压紧组件与基座活动连接,且压紧组件能够在基座的轴线方向往复移动,其中,压紧组件的端头具有压块,压块能够伸入固定块的环心内,并传力于预紧膜片。压块在基座内轴向压紧预紧膜片,同时压块径向变形提高了膜片预张力均匀性,产品的线性,挤压拉伸预紧薄膜,从而起到预紧、拍平效果。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及真空测量,尤其涉及一种电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置


技术介绍

1、电容薄膜真空计是一种利用弹性膜片在压差作用下产生位移,引起电极和膜片之间距离的变化,导致电容量发生改变,通过测量电容的变化,实现真空度测量的产品。其中感压膜片零件的制造水平直接关系到产品的技术指标和性能,通常薄膜焊接前须先给其施加预张力,再将其与上下座焊接固定。

2、现有技术中,都采用的通过压紧膜片的外圆周边,使其固定,然后再其轴向采用多点顶出机构或整体模块顶出机构,通过液压伸缩机构调节顶出机构预顶力和压紧机构的预压力实现薄膜的预张力,首先这类预紧装置,特别是采购液压驱动的,结构复杂,不利于流水线生产,且由于液压系统精度不高导致输出的预紧力离散性较大,从而增加的产品的不确定度,其次若采用的多点顶出机构,在顶杆头部与膜片的接触点会产生明显的压痕而对膜片造成损伤,并且膜片的张紧变形程度在接触点处最大,各个顶杆预顶杆直接死区,导致膜片预张力不均匀,且疲劳强度大大降低,产品的寿命低,线性差;再次若采用整体模块顶出机构,薄膜的平面度可以达到保证,受力也是比较均匀,但是只有轴本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置,适用于传力于预紧膜片,其特征在于,包括基座、安装块、固定块以及压紧组件;

2.根据权利要求1所述的电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置,其特征在于,所述压块的侧壁为倾斜面,整体呈圆台结构;

3.根据权利要求1所述的电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置,其特征在于,所述固定块为圆环结构;所述固定块呈圆环结构;

4.根据权利要求1所述的电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置,其特征在于,所述压紧组件还包括转动件;

5.根据权利要求4所述的电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置,其特征在于,所述压紧组件还包括轴承与垫块;...

【技术特征摘要】

1.一种电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置,适用于传力于预紧膜片,其特征在于,包括基座、安装块、固定块以及压紧组件;

2.根据权利要求1所述的电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置,其特征在于,所述压块的侧壁为倾斜面,整体呈圆台结构;

3.根据权利要求1所述的电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置,其特征在于,所述固定块为圆环结构;所述固定块呈圆环结构;

4.根据权利要求1所述的电容薄膜真空计膜片预紧、拍平装置,其特征在于,所述压紧组件还包括转动件;

5.根据权利要求4所述的电容薄膜真空计...

【专利技术属性】
技术研发人员:鲍春张斌谢志清蔡文冲
申请(专利权)人:上海梅科伍德电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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