【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于显微检测，具体是涉及一种显微系统下结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法。
技术介绍
1、在显微系统中实时地对微粒的三维运动进行建模能够实现微粒的三维动力学研究。目前许多研究者已经实现显微系统下微粒的二维空间运动的精确建模。然而要将微球的运动模型拓展至三维仍然存在一定的限制，其中最重要的限制因素是显微镜的轴向分辨率。
2、随着技术的发展，已有的在液体中粒子的三维定位方法包括临界角法、数字全息显微法、立体成像法、色彩共焦系统法、散射光干涉法等。这些方法在三维运动的建模上打破技术瓶颈，但是它们不仅需要复杂的设备支持，而且测试流程复杂且耗时。此外，也有研究者在不引入额外设备的基础上，利用图像的像素平方梯度值建立对应的轴向位移的曲线关系。该方法虽然简单易实施，但是系统外界的环境光线容易影响成像结果进而影响采集到的图像，导致实验误差。因此，亟待专利技术一种简单且适用性高的微粒轴向位移的测量方法。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于针对现有技术存在的上述技术问题，提供一...
【技术保护点】
1.结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，其特征在于包括以下步骤：
2.如权利要求1所述结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，其特征在于在步骤2)中，所述运行显微系统，采集并保存用于深度学习模型训练的原始数据的具体步骤为：
3.如权利要求1所述结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，其特征在于在步骤3)中，所述标注并扩充原始数据集，搭建、训练并测试深度学习模型的具体步骤为：
4.如权利要求1所述结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，其特征在于在步骤4)中，所述检测微粒的一级衍射环半径并通过拟合获得标定曲线，具体步骤为：
5.如...
【技术特征摘要】
1.结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，其特征在于包括以下步骤：
2.如权利要求1所述结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，其特征在于在步骤2)中，所述运行显微系统，采集并保存用于深度学习模型训练的原始数据的具体步骤为：
3.如权利要求1所述结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，其特征在于在步骤3)中，所述标注并扩充原始数据集，搭建、训练并测试深度学习模型的具体步骤为：
4.如权利要求1所述结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，其特征在于在步骤4)中，所述检测微粒的一级衍射环半径并通过拟合获得标定曲线，具体步骤为：<...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨扬，林龙星，邱圣杰，耿碧君，段慧聪，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：发明
国别省市：
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