测试装置和方法制造方法及图纸

一种测试装置和方法，所述测试装置包括：框架；能在所述框架内移动的诊断模块，例如游标，所述诊断模块定位在预定位置以进行测试操作。

【技术实现步骤摘要】

本专利申请涉及电路的评估和测量。
技术介绍
目前，对集成电路(IC， Integrated Circuit)、电子元件等进行各项测试 (例如电性测试、功能测试等)是借助夹具(clip)和电缆手动进行的。在进行测试时，对应每个测试项目会配备不同的夹具，因而在进行每个 测试项目时，都需要更换夹具。随着PCB的高度集成化，夹具通常针对IC的高 密度引脚而制作的，其具有较多连接点并且配有多通道电缆。
技术实现思路
提供一种测试装置，包括框架；和设置于所述框架上的诊断模块，所 述诊断模块定位在预定位置以进行测试操作。提供一种测试方法，包括下述步骤定位能在框架内移动的诊断模块， 所述诊断模块定位后，其上装配的应用结构定位至预定位置；激活测试项目。上述技术方案具有通用性，可以降低测试成本，并且易于实现测试的自 动化和降低测试错误率。附图说明图l是测试装置的一种实施方式的基本结构示意图； 图2是图1所示测试装置的一个实施例的分解图； 图3是图1所示测试装置的一个实施例的外观示意图； 图4是图2所示测试装置的控制中心的结构示意图； 图5是测试方法的一种实施方式的步骤示意图；图6是图2所示测试装置的操作本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置，其特征在于，包括：　框架；　设置于所述框架上的诊断模块，所述诊断模块定位在预定位置以进行测试操作。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张延华，
申请(专利权)人：北京中诚业昌科贸有限公司，
类型：发明
国别省市：11[]