【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及检测领域，特别涉及一种面板走线检测方法、装置、设备及可读存储介质。
技术介绍
1、现有技术中检测面板走线主要利用电压检测电路对面板走线的电压进行检测，进而根据检测出的电压值对面板走线是否发生短路或断路进行判断，由于测试时间不足等问题导致存在误判，同时当面板走线阻值过大时导致闸级走线讯号存在延迟，或导致面板储存电压未达到标准值，进而导致面板显示颜色存在色偏现象；当面板走线阻值过小时会导致走线与相邻的走线短路的风险，进而导致面板显示异常，同样会影响组件的良率。
2、因此，如何提供一种降低面板走线检测误判率的面板走线检测方法，是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种面板走线检测方法、装置、设备及可读存储介质，解决了现有技术中面板走线检测误判率较高的问题。
2、为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种面板走线检测方法，包括：
3、获取利用驱动ic芯片的电压检测电路检测面板走线电压得到的上门限电压
【技术保护点】
1.一种面板走线检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的面板走线检测方法，其特征在于，在所述基于所述面板走线电压与面板走线阻值的迟滞对应关系，根据所述上门限电压和所述下门限电压确定所述面板走线的阻值取值范围之后，还包括：
3.根据权利要求2所述的面板走线检测方法，其特征在于，在根据标准阻值取值范围对所述阻值取值范围进行调整，得到最终阻值取值范围之前，还包括：
4.根据权利要求1所述的面板走线检测方法，其特征在于，所述获取面板走线阻值，包括：
5.根据权利要求1所述的面板走线检测方法，其特征在于，当所述面板走...
【技术特征摘要】
1.一种面板走线检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的面板走线检测方法，其特征在于，在所述基于所述面板走线电压与面板走线阻值的迟滞对应关系，根据所述上门限电压和所述下门限电压确定所述面板走线的阻值取值范围之后，还包括：
3.根据权利要求2所述的面板走线检测方法，其特征在于，在根据标准阻值取值范围对所述阻值取值范围进行调整，得到最终阻值取值范围之前，还包括：
4.根据权利要求1所述的面板走线检测方法，其特征在于，所述获取面板走线阻值，包括：
5.根据权利要求1所述的面板走线检测方法，其特征在于，当所述面板走线阻值大于所述阻值取值范围的...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈廷仰，廖志洋，谢玉轩，王敏全，林佳欣，
申请(专利权)人：禹创半导体深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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