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本发明公开了一种面板走线检测方法、装置、设备及可读存储介质，应用于检测领域，该方法包括：获取利用驱动IC芯片的电压检测电路检测面板走线电压得到的上门限电压和下门限电压，基于面板走线电压与面板走线阻值的迟滞对应关系，根据上门限电压和下门限电压...
该专利属于禹创半导体（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过禹创半导体（深圳）有限公司授权不得商用。

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