一种接口芯片测试电路及测试系统技术方案

本技术适用于芯片测试技术改进领域，提供了一种接口芯片测试电路及测试系统，所述接口芯片测试电路包括IC测试座、可调直流电压源输入模块、方波或直流信号输入模块及滤波模块，所述可调直流电压源输入模块的输出端连接所述滤波模块的输入端，所述滤波模块的输出端连接所述IC测试座的输入端，所述方波或直流信号输入模块的输出端连接所述IC测试座的输入端。该测试电路结构简单，仅是采用现有的元器件搭建构成，极大地方便了此类接口芯片的测试，使用单一测试装置和低成本的常规设备就可完成此类接口芯片所有电参数测试，所用设备均是技术部分的必备设备，保证测试精度。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于芯片测试技术改进领域，尤其涉及一种接口芯片测试电路及测试系统。

技术介绍

1、目前一般使用ic测试机测试此类芯片的电参数；也有技术人员设计多种测试装置来测试此类芯片的电参数；一种测试装置测试某几个电参数，需要多个测试装置才能测试全部电参数。

2、ic测试机价格昂贵，操作不易，需专业技术人员编程与维护；若使用现有的测试装置，测试一颗芯片需要使用多个测试装置，操作较繁琐，效率较低。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种接口芯片测试电路，旨在解决上述的技术问题。

2、本技术是这样实现的，一种接口芯片测试电路，所述接口芯片测试电路包括ic测试座、可调直流电压源输入模块、方波或直流信号输入模块及滤波模块，所述可调直流电压源输入模块的输出端连接所述滤波模块的输入端，所述滤波模块的输出端连接所述ic测试座的输入端，所述方波或直流信号输入模块的输出端连接所述ic测试座的输入端。

3、本技术的进一步技术方案是：所述可调直流电压源输入模块包括第一电压单元、第二电压单元、第三电压本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种接口芯片测试电路，其特征在于，所述接口芯片测试电路包括IC测试座、可调直流电压源输入模块、方波或直流信号输入模块及滤波模块，所述可调直流电压源输入模块的输出端连接所述滤波模块的输入端，所述滤波模块的输出端连接所述IC测试座的输入端，所述方波或直流信号输入模块的输出端连接所述IC测试座的输入端。

2.根据权利要求1所述的接口芯片测试电路，其特征在于，所述可调直流电压源输入模块包括第一电压单元、第二电压单元、第三电压单元及第四电压单元，所述第一电压单元的输出端连接所述IC测试座的第20脚，所述第二电压单元的输出端连接所述IC测试座的第12、13及19脚，所述第三电压单元的...

【技术特征摘要】

1.一种接口芯片测试电路，其特征在于，所述接口芯片测试电路包括ic测试座、可调直流电压源输入模块、方波或直流信号输入模块及滤波模块，所述可调直流电压源输入模块的输出端连接所述滤波模块的输入端，所述滤波模块的输出端连接所述ic测试座的输入端，所述方波或直流信号输入模块的输出端连接所述ic测试座的输入端。

2.根据权利要求1所述的接口芯片测试电路，其特征在于，所述可调直流电压源输入模块包括第一电压单元、第二电压单元、第三电压单元及第四电压单元，所述第一电压单元的输出端连接所述ic测试座的第20脚，所述第二电压单元的输出端连接所述ic测试座的第12、13及19脚，所述第三电压单元的输出端连接所述ic测试座的第10脚，所述第四电压单元的输出端分别连接所述ic测试座的第2、5、6及9脚。

3.根据权利要求2所述的接口芯片测试电路，其特征在于，所述第一电压单元包括开关k1、滑动变阻器vr1及开关k15，所述ic测试座的第20脚分别连接所述开关k15的一端、开关k1的一端及滑动变阻器vr1的一端。

4.根据权利要求3所述的接口芯片测试电路，其特征在于，所述第二电压单元包括开关k2、滑动变阻器vr2、滑动变阻器vr3、开关k3、开关k5、开关6、开关k7、开关k8、电阻r5、电阻r6、滑动变阻器vr7、滑动变阻器vr8、发光二极管led5、发光二极管led6、开关k4、电阻r7及发光二极管led7，所述滑动变阻器vr2的一端分别连接所述开关k2的一端、滑动变阻器vr3的一端、ic测试座的第19脚、开关k5的一端、开关k6的一端、开关k7的一端、开关k4的一端及开关k8的一端，所述开关k5的另一端连接所述电阻r5的一端，所述电阻r5的另一端连接所述发光二极管led5的阳极，所述发光二极管led5的阴极分别连接所述ic测试座的第13脚及滑动变阻器vr7的一端，所述滑动变阻器vr7的另一端连接所述开关k7的另一端，开关k6的另一端连接所述电阻r6的一端，所述电阻r6的另一端连接所述发光二极管led6的阳极，所述发光二极管led6的阴极分别连接所述ic测试座的第12脚及滑动变阻器vr8的一端，所述滑动变阻器vr8的另一端连接所述开关k8的另一端，所述开关k4的另一端连接所述电阻r7的一端，电阻r7的另一端连接所述发光二极管led7的阳极，所述发光二极管led7的阴极连接所述ic测试座的第1脚。

5.根据权利要求4所述的接口芯片测试电路，其特征在于，所述第三电压单元包括滑动变阻器vr10及开关k10，所述滑动变阻器vr10的一端分别连接所述开关k10的一端及ic测试座的第10脚。

6.根据权利要求5所述的接口芯片测试电路，其特征在于，所述第四电压单元包括第一电路、第二电路、第三电路及第四电路，所述第一电路的输出端连接所述ic测试座的第2脚，所述第二电路的输出端连接所述ic测试座的第5脚，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：明迪生，陶利春，
申请(专利权)人：安芯微半导体技术深圳股份有限公司，
类型：新型
国别省市：