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本技术适用于芯片测试技术改进领域，提供了一种接口芯片测试电路及测试系统，所述接口芯片测试电路包括IC测试座、可调直流电压源输入模块、方波或直流信号输入模块及滤波模块，所述可调直流电压源输入模块的输出端连接所述滤波模块的输入端，所述滤波模块的...
该专利属于安芯微半导体技术（深圳）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安芯微半导体技术（深圳）股份有限公司授权不得商用。

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