一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法技术

技术编号:41755183 阅读:22 留言:0更新日期:2024-06-21 21:38
本发明专利技术公开了一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法,所述方法包括:对于含有磁不等位的各向异性自旋的分子量子位,通过脉冲电子顺磁共振测试其单晶样品在某一取向下多个磁不等位自旋的章动频率,基于章动频率与各向异性张量的取向之间的数学关系以及自旋的张量坐标系与晶体坐标系的相对位置关系,求解晶体的摆放角度并进行误差检验。采用本方法测量晶体样品在电子顺磁共振实验中的取向不依赖于磁场扫描,具有快速、准确的特点。另外,通过本方法验证的样品可以作为高精度测角探针加以应用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于量子精密测量,涉及一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法


技术介绍

1、随着国际单位制的七个基本物理量均由基于量子现象的自然常数定义,精密测量进入量子时代。量子精密测量是一种基于量子力学基本原理,对磁场、电场、时间、温度、力等物理量进行读取和测量的技术。利用能级跃迁、量子纠缠、量子相干等量子效应和资源,量子精密测量技术可以实现超越经典方法的测量精度。

2、磁性分子作为量子信息处理领域的潜在候选者之一,与光子、超导电路、离子阱、金刚石nv色心等物理体系相比,其电子结构和磁各向异性可以通过化学修饰和分子组装来调控,还可能包含丰富的自旋态和多种不同取向的自旋中心,从而展现出极大的可拓展优势。磁性分子体系在量子信息处理领域的研究及应用前景已有诸多报道(nat.rev.phys.2021,3(9),645–659.,j.am.chem.soc.2019,141(29),11339–11352.等),被认为是一种极具前景的量子材料。

3、然而,目前对磁性分子量子材料的研究更多停留于相干操控的实验层面,有部分工作涉及到量子计算的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法,其特征在于:包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法,其特征在于:步骤1)所述的含有磁不等位自旋的化合物,为金属-有机配合物或无机金属氧化物。

3.根据权利要求1所述的一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法,其特征在于:步骤1)所述的化合物的粉末和步骤4)所述的单晶样品是经过抗磁稀释的。

4.根据权利要求1所述的一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法,其特征在于:步骤3)所述的张量坐标系与晶体坐标系的相对位置关系是通过晶面指标化测试和单晶转角连续波电子顺磁共振测试...

【技术特征摘要】

1.一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法,其特征在于:包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法,其特征在于:步骤1)所述的含有磁不等位自旋的化合物,为金属-有机配合物或无机金属氧化物。

3.根据权利要求1所述的一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法,其特征在于:步骤1)所述的化合物的粉末和步骤4)所述的单晶样品是经过抗磁稀释的。

4.根据权利要求1所述的一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法,其特征在于:步骤3)所述的张量坐标系与晶体坐标系的相对位置关系是通过晶面指标化测试和单晶转角连续波电子顺磁共振测试确定的。

5.根据权利要求1所述的一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法,其特征在于:步骤4)所述的脉冲电子顺磁共振测试,其中脉冲电子...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋尚达廖益秋刘正王烨欣高松
申请(专利权)人:华南理工大学
类型:发明
国别省市:

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