集成电路器件及其形成方法技术

技术编号:41726304 阅读:24 留言:0更新日期:2024-06-19 12:49
集成电路器件包括在衬底的前侧处彼此堆叠的第一类型晶体管和第二类型晶体管。第二类型晶体管位于第一类型晶体管和衬底之间。集成电路器件也包括:前侧电感器,具有位于第一类型晶体管和第二类型晶体管之上的前侧上部金属层中的一个或多个导体;以及背侧电感器,具有位于衬底的背侧处的背侧下部金属层中的一个或多个导体。前侧电感器、第一类型晶体管和第二类型晶体管在背侧电感器正上方形成堆叠件。本申请的实施例还涉及形成集成电路器件的方法。

【技术实现步骤摘要】

本申请的实施例涉及集成电路器件及其形成方法


技术介绍

1、集成电路(ic)通常包括根据一个或多个ic布局图制造的许多ic器件。ic器件有时包括互补场效应晶体管(cfet)器件。cfet器件通常在堆叠配置中具有位于下部fet上面的上部fet。cfet器件中的上部fet和下部fet都位于背侧导电层中的导线之上,但是位于前侧导电层中的导线之下。


技术实现思路

1、本申请的一些实施例提供了一种集成电路器件,包括:衬底;第一类型晶体管和第二类型晶体管,在所述衬底的前侧处彼此堆叠,其中,所述第二类型晶体管位于所述第一类型晶体管和所述衬底之间;前侧电感器,具有位于所述第一类型晶体管和所述第二类型晶体管之上的前侧上部金属层中的一个或多个导体;背侧电感器,具有位于所述衬底的背侧处的背侧下部金属层中的一个或多个导体,其中,所述前侧电感器、所述第一类型晶体管和所述第二类型晶体管在所述背侧电感器正上方形成堆叠件;以及电容元件,耦接至所述第一类型晶体管的漏极端子和所述第二类型晶体管的漏极端子,并且与所述前侧电感器和所述背侧电感器形成本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种集成电路器件,包括:

2.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中,所述前侧电感器和所述背侧电感器串联连接。

3.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中,所述前侧电感器包括位于另一前侧金属层中的一个或多个导体段,所述一个或多个导体段的总长度小于所述前侧上部金属层中的所述一个或多个导体的总长度,其中,所述前侧上部金属层中的所述一个或多个导体通过所述一个或多个导体段串联导电连接。

4.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中,所述前侧电感器是所述前侧上部金属层中的螺旋形线圈。

5.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中,所述背侧电感器包括位...

【技术特征摘要】

1.一种集成电路器件,包括:

2.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中,所述前侧电感器和所述背侧电感器串联连接。

3.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中,所述前侧电感器包括位于另一前侧金属层中的一个或多个导体段,所述一个或多个导体段的总长度小于所述前侧上部金属层中的所述一个或多个导体的总长度,其中,所述前侧上部金属层中的所述一个或多个导体通过所述一个或多个导体段串联导电连接。

4.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中,所述前侧电感器是所述前侧上部金属层中的螺旋形线圈。

5.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中,所述背侧电感器包括位于另一背侧金属层中的一个或多个导体段,所述一个...

【专利技术属性】
技术研发人员:尤韦翔范铭隆吕盈达廖思雅
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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