【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及探针，具体为一种测试治具叠片式探针模块。
技术介绍
1、随着电子产品的不断发展和普及，对电子产品的测试和检测也变得越来越重要，在电子产品的生产过程中，需要对产品的各种参数进行测试，以确保产品的质量和可靠性，在测试过程中，需要使用测试治具来连接测试设备和被测试产品，以实现对产品的测试。
2、现有技术存在以下问题：
3、现有的探针模块在实际使用过程中，由于其整体结构复杂，在对其进行组装，工序繁琐，从而降低了探针模块使用便捷性，并且传统的测试治具还存在探针容易损坏、探针与被测试产品接触不良等问题，影响测试的准确性和可靠性，因此提出了一种测试治具叠片式探针模块。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种测试治具叠片式探针模块，解决了现今存在的探针模块使用复杂的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种测试治具叠片式探针模块，包括叠片式探针模块主体，所述叠片式探针模块主体下表面，所述第一固定块一侧设置有探针主体，所...
【技术保护点】
1.一种测试治具叠片式探针模块，包括叠片式探针模块主体(1)，其特征在于：所述叠片式探针模块主体(1)下表面，所述第一固定块(2)一侧设置有探针主体(3)，所述探针主体(3)一侧设置有第二固定块(4)；
2.根据权利要求1所述的一种测试治具叠片式探针模块，其特征在于：所述第一限位孔(21)固定镶嵌在第一固定块(2)上端内壁中，所述第一限位孔(21)与叠片式探针模块主体(1)之间通过螺丝进行连接。
3.根据权利要求1所述的一种测试治具叠片式探针模块，其特征在于：所述定位柱(22)固定安装在第一固定块(2)一侧，所述定位柱(22)与定位孔(32)之
【技术特征摘要】
1.一种测试治具叠片式探针模块，包括叠片式探针模块主体(1)，其特征在于：所述叠片式探针模块主体(1)下表面，所述第一固定块(2)一侧设置有探针主体(3)，所述探针主体(3)一侧设置有第二固定块(4)；
2.根据权利要求1所述的一种测试治具叠片式探针模块，其特征在于：所述第一限位孔(21)固定镶嵌在第一固定块(2)上端内壁中，所述第一限位孔(21)与叠片式探针模块主体(1)之间通过螺丝进行连接。
3.根据权利要求1所述的一种测试治具叠片式探针模块，其特征在于：所述定位...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢传明，
申请(专利权)人：深圳市菲腾电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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