【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于3d检测,涉及相位测量偏折术,具体提供一种基于led正弦点阵图案与两级光扩展的高速条纹屏。
技术介绍
1、随着科学技术和工业加工水平的不断发展,在诸如航空航天、精密光学、电子产品制造业等领域中,具有较高面形复杂度的光滑表面逐渐占据了举足轻重的地位,同时针对此类表面的快速检测需求也不断增加。
2、在众多检测方法中,相位测量偏折术是一种基于结构光的全场检测方法,具有非接触、精度高等优点,因而被广泛应用于光滑表面的表面质量检测和三维面形测量中。相位测量偏折术的基本原理是结构光光源投影两个方向的多帧正弦条纹图案,通过采集和分析经表面反射的畸变条纹,反演出表面的缺陷信息和三维面形;显然,光源的投影速度和相机的采集速度共同决定了相位测量偏折术的检测速度;其中,百万帧的高速相机已经屡有报道,但是作为主流结构光光源的商用tft-lcd的投影帧率不超过100hz。因此,研究高精度的高速条纹投影屏幕是突破相位测量偏折术测量速度瓶颈的关键技术。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提
...【技术保护点】
1.一种基于LED正弦点阵图案与两级光扩展的高速条纹屏,包括:PCB电路板(1)、LED芯片阵列(2)、光隔离架(3)、横向光栅(4)、纵向光栅(5)及散光膜(6);其特征在于:
2.按权利要求1所述基于LED正弦点阵图案与两级光扩展的高速条纹屏,其特征在于,每个LED芯片组由并排设置的横向单元与纵向单元构成,所有横向单元共同构成横向条纹显示组,以行为控制组,通过亮度控制以显示横向正弦点阵图案;所有纵向单元共同构成纵向条纹显示组,以列为控制组,通过亮度控制以显示纵向正弦点阵图案。
3.按权利要求2所述基于LED正弦点阵图案与两级光扩展的高速条纹
...【技术特征摘要】
1.一种基于led正弦点阵图案与两级光扩展的高速条纹屏,包括:pcb电路板(1)、led芯片阵列(2)、光隔离架(3)、横向光栅(4)、纵向光栅(5)及散光膜(6);其特征在于:
2.按权利要求1所述基于led正弦点阵图案与两级光扩展的高速条纹屏,其特征在于,每个led芯片组由并排设置的横向单元与纵向单元构成,所有横向单元共同构成横向条纹显示组,以行为控制组,通过亮度控制以显示横向正弦点阵图案;所有纵向单元共同构成纵向条纹显示组,以列为控制组,通过亮度控制以显示纵向正弦点阵...
【专利技术属性】
技术研发人员:彭仁军,王杰,岳慧敏,刘文凯,韦晨,刘永,
申请(专利权)人:电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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